[发明专利]试样分析装置无效
| 申请号： | 201210579250.6 | 申请日： | 2012-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN103185691A | 公开（公告）日： | 2013-07-03 |
| 发明（设计）人： | 金弘根;金东映;金忠雄 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G01N21/15 | 分类号： | G01N21/15;G01N21/59 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人： | 韩明星;王秀君 |
| 地址： | 韩国京畿*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 一种试样分析装置设置有于精确的位置使盘的旋转停止的结构。所述试样分析装置包括：盘，构造成在旋转轴上旋转并具有至少一个检测区域；光学传感装置，构造成检测在所述至少一个检测区域上的反应结果；至少一个位置确定突起，设置在所述盘的外表面上；滑动器，在径向上相对于所述盘移动地设置；以及止动器，安装到所述滑动器并构造成通过阻挡所述至少一个位置确定突起使所述盘的转动停止。 | ||
| 搜索关键词： | 试样 分析 装置 | ||
【主权项】：
一种试样分析装置，包括：盘，构造成绕旋转轴旋转，并具有至少一个检测区域；光学传感装置，构造成检测于所述至少一个检测区域上显示的反应结果；至少一个位置确定突起，形成在所述盘的外表面上；滑动器，设置成在径向上相对于所述盘可移动；以及止动器，安装到所述滑动器，并构造成通过阻挡所述至少一个位置确定突起的旋转路径使所述盘的旋转停止。
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