[发明专利]试样分析装置

权利要求书

1.一种试样分析装置，包括：

盘，构造成绕旋转轴旋转，并具有至少一个检测区域；

光学传感装置，构造成检测于所述至少一个检测区域上显示的反应结果；

至少一个位置确定突起，形成在所述盘的外表面上；

滑动器，设置成在径向上相对于所述盘可移动；以及

止动器，安装到所述滑动器，并构造成通过阻挡所述至少一个位置确定突起的旋转路径使所述盘的旋转停止。

2.根据权利要求1所述的试样分析装置，其中，所述止动器构造成于所述光学传感装置能检测所述至少一个检测区域的位置使所述盘的旋转停止。

3.根据权利要求1所述的试样分析装置，其中，所述盘包括位于在径向上距所述旋转轴第一距离处的第一位置确定突起以及位于在径向上距所述旋转轴第二距离处的第二位置确定突起。

4.根据权利要求3所述的试样分析装置，其中，所述盘包括第一检测区域和第二检测区域。

5.根据权利要求4所述的试样分析装置，其中，在所述止动器通过阻挡所述第一位置确定突起的旋转路径使所述盘的旋转停止时，所述第一检测区域停止于所述光学传感装置能检测所述第一检测区域的位置。

6.根据权利要求4所述的试样分析装置，其中，在所述止动器通过阻挡所述第二位置确定突起的旋转路径使所述盘的旋转停止时，所述第二检测区域停止于所述光学传感装置能检测所述第二检测区域的位置。

7.根据权利要求3所述的试样分析装置，其中，所述滑动器构造成在所述旋转轴和所述盘的外围之间移动。

8.根据权利要求1所述的试样分析装置，其中，所述止动器包括容纳部分，所述容纳部分构造成定位所述至少一个位置确定突起。

9.根据权利要求1所述的试样分析装置，其中，所述止动器包括衬垫构件，所述衬垫构件设置在所述止动器的接触所述位置确定突起的表面上。

10.根据权利要求1所述的试样分析装置，其中，所述止动器包括夹持单元，所述夹持单元构造成通过从相反的方向挤压所述位置确定突起而使所述位置确定突起停止。

11.根据权利要求1所述的试样分析装置，其中，所述滑动器包括停止检测单元，所述停止检测单元构造成检测所述位置确定突起是否被所述止动器停止。

12.根据权利要求11所述的试样分析装置，其中，所述停止检测单元包括铰接止动器，并且所述停止检测单元被构造成通过检测所述铰接止动器的运动来确定所述位置确定突起是否停止。

13.根据权利要求11所述的试样分析装置，其中，所述停止检测单元包括开关。

14.根据权利要求1所述的试样分析装置，其中，所述滑动器包括位置检测单元，所述位置检测单元构造成检测所述止动器是否移动至能够使所述位置确定突起停止的位置，

其中，所述位置检测单元包括发光部分和光接收部分，所述发光部分和所述光部分彼此相对，以使所述位置检测突起将经过所述发光部分和所述光接收部分之间。

15.根据权利要求1所述的试样分析装置，其中，所述光学传感装置安装到所述滑动器。