[发明专利]一种提高内量子效率的LED外延结构及生长方法在审
| 申请号: | 201210549917.8 | 申请日: | 2012-12-18 |
| 公开(公告)号: | CN103996765A | 公开(公告)日: | 2014-08-20 |
| 发明(设计)人: | 肖志国;展望;杨天鹏;刘俊;芦玲;武胜利 | 申请(专利权)人: | 大连路美芯片科技有限公司 |
| 主分类号: | H01L33/06 | 分类号: | H01L33/06;H01L33/32 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 116025 *** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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| 摘要: | 本发明提供了一种提高内量子效率的LED外延结构及生长方法,在下P型GaN层和P型AlGaN层之间引入P-InxGa1-xN/P-AlyInzGa1-y-zN空穴注入层,引入P-InGaN层有利于空穴的积累,从而增加P-InGaN处空穴浓度,增强空穴的注入。同时P-AlInGaN的引入提高了有效势垒高度减少了电子的泄漏,使电子和空穴在发光量子阱区域的复合效率得到提高,进而提高器件内量子效率。本发明的外延片按常规芯片工艺,制成单颗尺寸为10×23mil、以ITO为透明电极的LED芯片,经过芯片测试,测试电流20mA,单颗芯片光输出功率可得到10%-25%的提升。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 提高 量子 效率 led 外延 结构 生长 方法 | ||
【主权项】:
一种提高内量子效率的LED外延结构,其包括衬底、低温GaN缓冲层、非掺杂GaN层、n型GaN层、多量子阱层、下p型GaN层、p型AlGaN层、上p型GaN层、高掺杂p型电极接触层,其特征在于:在所述下p型GaN层和p型AlGaN层之间引入空穴注入层,所述空穴注入层为至少一个周期的P‑InxGa1‑xN/ P‑AlyInzGa1‑y‑zN结构,其中0<x<1,0<y<1、0≤z<1、0<y+z<1。
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