[发明专利]Li掺杂生长p型透明导电Ni1-xMgxO晶体薄膜的方法有效

专利信息
申请号: 201210541828.9 申请日: 2012-12-14
公开(公告)号: CN103060757A 公开(公告)日: 2013-04-24
发明(设计)人: 曹铃;李秀燕;杨致 申请(专利权)人: 太原理工大学
主分类号: C23C14/28 分类号: C23C14/28;C23C14/08;C23C14/58
代理公司: 太原科卫专利事务所(普通合伙) 14100 代理人: 戎文华
地址: 030024 山西*** 国省代码: 山西;14
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摘要: 一种Li掺杂生长p型透明导电Ni1-xMgxO晶体薄膜的方法是采用脉冲激光沉积法,将NiO、MgO和Li2CO3粉末球磨混合后,压型并高温烧结,制得掺Li的Ni1-xMgxO陶瓷靶材;再将陶瓷靶材与衬底置入脉冲激光沉积装置,调整靶材与衬底间距,在适当的衬底温度、氧气压强和激光频率下进行生长,后冷却至室温,获得Li掺杂Ni1-xMgxO晶体薄膜。本发明方法所制备的晶体薄膜呈p型电导,具有低电阻率、高透射率、高载流子迁移率和带隙连续可调等优良特性;而且方法简单,实现了实时掺杂,掺杂浓度通过调节生长温度和靶材中Li和Mg的含量来控制,得到的薄膜在透明电子和光电子器件等领域具有广泛的应用前景。
搜索关键词: li 掺杂 生长 透明 导电 ni sub mg 晶体 薄膜 方法
【主权项】:
一种Li掺杂生长p型透明导电Ni1‑xMgxO晶体薄膜的方法,包括脉冲激光沉积法,其具体方法步骤如下:1)将纯度≥99.99%的NiO、MgO和Li2CO3粉末,其中Mg的摩尔百分含量x为099.999%的O2为生长气氛,控制压强为0.1~20 Pa,激光频率为3~5 Hz,生长时间为20~120 min,进行生长,后冷却至室温,获得Li掺杂p型透明导电Ni1‑xMgxO晶体薄膜。
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