[发明专利]触摸检测装置及触摸检测装置制造方法有效
| 申请号： | 201210530158.0 | 申请日： | 2012-12-10 |
| 公开（公告）号： | CN103186303A | 公开（公告）日： | 2013-07-03 |
| 发明（设计）人： | 闵东振 | 申请（专利权）人： | 美法思株式会社 |
| 主分类号： | G06F3/044 | 分类号： | G06F3/044 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人： | 张华卿;郑霞 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明提供触摸检测装置及触摸检测装置制造方法。触摸检测装置制造方法包括下列步骤：在被第一辊轮卷出的第一基板上连续形成多个电极图案；在被第二辊轮卷出的第二基板上连续形成多个布线图案；贴合上述第一基板及上述第二基板而形成触摸检测基板阵列；形成对上述多个电极图案及上述多个布线图案各个进行电连接的导通孔；以包含一个上述电极图案及一个上述布线图案的触摸检测基板为单位切断触摸检测基板阵列。 | ||
| 搜索关键词： | 触摸 检测 装置 制造 方法 | ||
【主权项】：
一种触摸检测装置制造方法，包括下列步骤：在被第一辊轮卷出的第一基板上连续形成多个电极图案；在被第二辊轮卷出的第二基板上连续形成多个布线图案；贴合上述第一基板及上述第二基板而形成触摸检测基板阵列；形成对上述多个电极图案及上述多个布线图案各个进行电连接的导通孔；以包含一个上述电极图案及一个上述布线图案的触摸检测基板为单位切断触摸检测基板阵列。
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