[发明专利]一种电子产品中接触不良故障的快速诊断定位方法在审
| 申请号： | 201210514626.5 | 申请日： | 2012-12-04 |
| 公开（公告）号： | CN103852677A | 公开（公告）日： | 2014-06-11 |
| 发明（设计）人： | 张卫欣;刘卿;刘崇伟;严晶晶;解岩;吕伟嘉;李祯祥;张霂言;邹金林;刘丽媛 | 申请（专利权）人： | 天津市电力公司;国家电网公司 |
| 主分类号： | G01R31/02 | 分类号： | G01R31/02 |
| 代理公司： | 天津盛理知识产权代理有限公司 12209 | 代理人： | 王来佳 |
| 地址： | 300010*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种电子产品中接触不良故障的快速诊断定位方法，工作步骤包括：⑴初步确定故障点；⑵对初步确定的故障点加电；⑶使怀疑的故障点接触液氮；⑷故障是否复现；⑸逐一测试连接链路中的疑似故障点，最终定位出接触不良故障的位置。本发明有效放大接触不良故障现象，喷射液氮后，样品的局部温度可急剧下降到负五十摄氏度以下，热膨胀系数不同的各材料间热失配现象更为明显，因此能够比低温箱法或温度冲击法更快、更有效地放大串阻或开路模式；本发明是一种简单的快速试验方法，定位准确，不需要长时间的试验时间、众多的试验设备和复杂的试验程序，大大地提高了试验效率和现实可操作性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电子产品 接触 不良 故障 快速 诊断 定位 方法 | ||
【主权项】：
一种电子产品中接触不良故障的快速诊断定位方法，其特征在于：工作步骤如下：⑴初步确定故障点；⑵对初步确定的故障点加电；⑶使怀疑的故障点接触液氮；⑷故障是否复现；⑸逐一测试连接链路中的疑似故障点，最终定位出接触不良故障的位置。
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