[发明专利]沟槽型MOS晶体管制造方法有效

专利信息
申请号: 201210507109.5 申请日: 2012-11-30
公开(公告)号: CN102945808B 公开(公告)日: 2017-06-23
发明(设计)人: 吴亚贞;楼颖颖;刘宪周;肖培;冯凯 申请(专利权)人: 上海华虹宏力半导体制造有限公司
主分类号: H01L21/336 分类号: H01L21/336;H01L21/28
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙)31237 代理人: 郑玮
地址: 201203 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种沟槽型MOS晶体管制造方法包括在硅片中形成沟槽;在沟槽中形成栅极结构;沉积层间电介质层,并通过刻蚀在层间电介质层中形成两种接触孔的图案,一种是对应于与有源区接触的接触孔的图案,另一种是作为器件外围保护环的图案;在两种接触孔中离子注入B和P,在有源区形成阱区和源区,同时在保护环区形成保护环;在两种接触孔的图案中沉积正硅酸乙酯;在两种接触孔的图案中沉积硼磷硅玻璃;对硼磷硅玻璃进行回流,将保护环区的接触孔密封;对硼磷硅玻璃进行刻蚀以形成与有源区接触的接触孔的隔离物,从而将与有源区接触的接触孔的初始关键尺寸缩小为最终关键尺寸;以正硅酸乙酯和硼磷硅玻璃为阻挡层对硅衬底进行刻蚀,以形成与有源区接触的接触孔;形成接触孔阻挡层并沉积金属,再对金属进行刻蚀。
搜索关键词: 沟槽 mos 晶体管 制造 方法
【主权项】:
一种沟槽型MOS晶体管制造方法,其特征在于包括:沟槽形成步骤,用于在硅片中形成沟槽;栅极结构的形成步骤,用于在沟槽中形成栅极结构;层间电介质的沉积及刻蚀步骤,用于沉积层间电介质层,并通过刻蚀在层间电介质层中形成两种接触孔的图案,一种是对应于与有源区接触的接触孔的图案,另一种是作为器件外围保护环的图案;在两种接触孔中离子注入B和P,在有源区形成阱区和源区,同时在保护环区形成保护环;第一沉积步骤,用于在两种接触孔的图案中沉积正硅酸乙酯;第二沉积步骤,用于在两种接触孔的图案中沉积硼磷硅玻璃;硼磷硅玻璃回流步骤,用于对硼磷硅玻璃进行回流,将保护环区的接触孔密封;硼磷硅玻璃刻蚀步骤:对硼磷硅玻璃进行刻蚀以形成与有源区接触的接触孔的隔离物,从而将与有源区接触的接触孔的初始关键尺寸缩小为最终关键尺寸;硅片刻蚀步骤,用于以正硅酸乙酯和硼磷硅玻璃为阻挡层对硅衬底进行刻蚀,以形成与有源区接触的接触孔;后续沉积刻蚀步骤,用于形成接触孔阻挡层并沉积金属,再对金属进行刻蚀。
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