[发明专利]沟槽型MOS晶体管制造方法有效
申请号: | 201210507109.5 | 申请日: | 2012-11-30 |
公开(公告)号: | CN102945808B | 公开(公告)日: | 2017-06-23 |
发明(设计)人: | 吴亚贞;楼颖颖;刘宪周;肖培;冯凯 | 申请(专利权)人: | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
主分类号: | H01L21/336 | 分类号: | H01L21/336;H01L21/28 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙)31237 | 代理人: | 郑玮 |
地址: | 201203 上海市*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 一种沟槽型MOS晶体管制造方法包括在硅片中形成沟槽;在沟槽中形成栅极结构;沉积层间电介质层,并通过刻蚀在层间电介质层中形成两种接触孔的图案,一种是对应于与有源区接触的接触孔的图案,另一种是作为器件外围保护环的图案;在两种接触孔中离子注入B和P,在有源区形成阱区和源区,同时在保护环区形成保护环;在两种接触孔的图案中沉积正硅酸乙酯;在两种接触孔的图案中沉积硼磷硅玻璃;对硼磷硅玻璃进行回流,将保护环区的接触孔密封;对硼磷硅玻璃进行刻蚀以形成与有源区接触的接触孔的隔离物,从而将与有源区接触的接触孔的初始关键尺寸缩小为最终关键尺寸;以正硅酸乙酯和硼磷硅玻璃为阻挡层对硅衬底进行刻蚀,以形成与有源区接触的接触孔;形成接触孔阻挡层并沉积金属,再对金属进行刻蚀。 | ||
搜索关键词: | 沟槽 mos 晶体管 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种沟槽型MOS晶体管制造方法,其特征在于包括:沟槽形成步骤,用于在硅片中形成沟槽;栅极结构的形成步骤,用于在沟槽中形成栅极结构;层间电介质的沉积及刻蚀步骤,用于沉积层间电介质层,并通过刻蚀在层间电介质层中形成两种接触孔的图案,一种是对应于与有源区接触的接触孔的图案,另一种是作为器件外围保护环的图案;在两种接触孔中离子注入B和P,在有源区形成阱区和源区,同时在保护环区形成保护环;第一沉积步骤,用于在两种接触孔的图案中沉积正硅酸乙酯;第二沉积步骤,用于在两种接触孔的图案中沉积硼磷硅玻璃;硼磷硅玻璃回流步骤,用于对硼磷硅玻璃进行回流,将保护环区的接触孔密封;硼磷硅玻璃刻蚀步骤:对硼磷硅玻璃进行刻蚀以形成与有源区接触的接触孔的隔离物,从而将与有源区接触的接触孔的初始关键尺寸缩小为最终关键尺寸;硅片刻蚀步骤,用于以正硅酸乙酯和硼磷硅玻璃为阻挡层对硅衬底进行刻蚀,以形成与有源区接触的接触孔;后续沉积刻蚀步骤,用于形成接触孔阻挡层并沉积金属,再对金属进行刻蚀。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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