[发明专利]晶体管特性图示仪高分辨测试装置有效
| 申请号： | 201210488087.2 | 申请日： | 2012-11-27 |
| 公开（公告）号： | CN103837811A | 公开（公告）日： | 2014-06-04 |
| 发明（设计）人： | 刘礼伟;宋云衢 | 申请（专利权）人： | 江苏绿扬电子仪器集团有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R1/30 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 212200 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提出一种参数测量装置，尤其涉及一种晶体管特性图示仪高分辨测试技术。本发明的晶体管特性图示仪高分辨测试装置，包括被测件三极管Q1，三极管Q1的集电极依次串接串联电阻、集电极电源，集电极电源与三极管Q1的发射极之间设有容性电流补偿装置或取样回路高分辨率差放装置。采用高灵敏度差放和补偿电路避免在小电流测试时容性电流、大电流测试时接触电阻和引线电阻引起的电压降被电压取样电路所采集，使得电压测量能够获得ADC高分辨率的测试结果。 | ||
| 搜索关键词： | 晶体管 特性 图示 分辨 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种晶体管特性图示仪高分辨测试装置，其特征在于，包括被测件三极管Q1，三极管Q1的集电极依次串接串联电阻、集电极电源，集电极电源与三极管Q1的发射极之间设有容性电流补偿装置或取样回路高分辨率差放装置。
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