[发明专利]像素单元、显示装置以及缺陷修复方法有效
申请号: | 201210485693.9 | 申请日: | 2012-11-23 |
公开(公告)号: | CN103839961B | 公开(公告)日: | 2017-09-01 |
发明(设计)人: | 蔡韬 | 申请(专利权)人: | 上海天马微电子有限公司 |
主分类号: | H01L27/32 | 分类号: | H01L27/32;H01L21/77 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司11332 | 代理人: | 孟金喆 |
地址: | 201201 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种像素单元、显示装置以及缺陷修复方法,所述像素单元由彼此交叉的扫描线和数据线围成,包括驱动电路和有机发光器件,所述驱动电路中包括薄膜晶体管和存储电容,为每个所述驱动电路中作为选通单元的薄膜晶体管布设了与其特性相反的薄膜晶体管;所述作为选通单元的薄膜晶体管的源极与所述数据线电连接,漏极与所述存储电容电连接,栅极与第一扫描线电连接;所述布设的薄膜晶体管的源极与所述存储电容电连接,漏极与所述数据线电连接,栅极与第二扫描线电连接。本发明的技术方案,减少电容充电时间,补偿阈值电压均匀性,可以方便进行电路修复,灵活采用多种修复方式,降低像素电路故障率。 | ||
搜索关键词: | 像素 单元 显示装置 以及 缺陷 修复 方法 | ||
【主权项】:
一种像素单元,由彼此交叉的扫描线和数据线围成,包括驱动电路和有机发光器件,所述驱动电路中包括薄膜晶体管和存储电容,其特征在于,为每个所述驱动电路中作为选通单元的薄膜晶体管布设了与其特性相反的薄膜晶体管;所述作为选通单元的薄膜晶体管的源极与所述数据线电连接,漏极与所述存储电容电连接,栅极与第一扫描线电连接;所述布设的薄膜晶体管的源极与所述存储电容电连接,漏极与所述数据线电连接,栅极与第二扫描线电连接;所述驱动电路出现故障时,隔离故障电路,并通过所述布设的薄膜晶体管继续驱动所述有机发光器件;或者,作为选通单元的薄膜晶体管发生故障时,切断故障的薄膜晶体管与所述存储电容的连接线路,并通过所述布设的薄膜晶体管继续驱动所述有机发光器件。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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