[发明专利]平面栅超级结产品栅极版图结构在审
申请号: | 201210484655.1 | 申请日: | 2012-11-23 |
公开(公告)号: | CN103839982A | 公开(公告)日: | 2014-06-04 |
发明(设计)人: | 王飞 | 申请(专利权)人: | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
主分类号: | H01L29/423 | 分类号: | H01L29/423;H01L29/06 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人: | 丁纪铁 |
地址: | 201203 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种平面栅超级结产品栅极版图结构,具有多个原包结构,每个原包结构包括:N型衬底上生长N型外延,N型外延上部形成P阱区,P阱区和N型外延上形成有栅极氧化膜,栅极氧化膜上形成有多晶硅栅极,多晶硅栅极上形成有金属硅化物;所述多晶硅栅极是彼此分离的两个多晶硅栅极,在P阱区之间N型外延上方形成一窗口,多晶硅栅极一侧边缘位于P阱区上方,另一侧边缘位于P阱区之间的N型外延上方。本发明通过减小多晶栅极和N外延的重叠面积能减小栅-漏电容,减小MOSFET管的开关时间,降低产品在交流应用时的损耗;去掉了在原包结构两个P阱区之间的栅极板的覆盖,使产品在开启工作时,降低了导电电流受栅极电压的影响,降低了导通电阻。 | ||
搜索关键词: | 平面 超级 产品 栅极 版图 结构 | ||
【主权项】:
一种平面栅超级结产品栅极版图结构,具有多个原包结构,每个原包结构包括:N型衬底上生长的N型外延,所述N型外延上部形成有P阱区,所述P阱区和N型外延的上形成有栅极氧化膜,所述栅极氧化膜上形成有多晶硅栅极,所述多晶硅栅极上形成有金属硅化物;其特征是:所述多晶硅栅极是彼此分离的两个多晶硅栅极,在所述P阱区之间的N型外延上方形成一窗口,所述多晶硅栅极一侧的边缘位于P阱区上方,另一侧的边缘位于所述P阱区之间的N型外延上方。
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