[发明专利]一种聚合物层合结构老化失效机理的实验分析方法无效

专利信息
申请号: 201210479828.0 申请日: 2012-11-23
公开(公告)号: CN102944473A 公开(公告)日: 2013-02-27
发明(设计)人: 谢志民;陈思驰;王友善;阎相桥;刘宇艳;万志敏 申请(专利权)人: 哈尔滨工业大学
主分类号: G01N3/08 分类号: G01N3/08
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 150000 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 一种聚合物层合结构老化失效机理的实验分析方法,涉及一种层合结构的老化失效机理的实验分析方法。本方法主要通过实验方法,使层合结构的老化只受单一因素的影响,通过测定不同老化时间的临界积分值,绘制出老化曲线,通过对2条曲线的比较,判定出界面老化的主要机理;同时,将层合结构不同部分进行切割组成新的层合结构,测定其临界积分值,并与完全老化的层合结构的临界积分值进行对比,判断层合结构中组份材料非均匀老化的趋势。本发明可适用于各种层合结构的老化评估问题,在航天,航空领域具有广阔的应用前景。
搜索关键词: 一种 聚合物 结构 老化 失效 机理 实验 分析 方法
【主权项】:
1.一种聚合物层合结构老化失效机理的实验分析方法,其特征在于所述方法为:层合结构a由两种或多种聚合物材料组成,将采用上述单一材料组成的试件在界面处切割后重新粘结成层合结构b,通过测定不同老化时间的临界积分值,绘制出老化曲线,通过对层合结构a与层合结构b两条老化曲线的比较,判定出界面老化的主要机理。
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