[发明专利]大芯片尺寸封装及其制造方法有效

专利信息
申请号: 201210478706.X 申请日: 2012-11-22
公开(公告)号: CN103000648A 公开(公告)日: 2013-03-27
发明(设计)人: 秦飞;武伟;安彤;刘程艳;陈思;夏国峰;朱文辉 申请(专利权)人: 北京工业大学
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146
代理公司: 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 代理人: 魏聿珠
地址: 100124 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 大芯片尺寸封装及其制造方法,属于传感器技术领域。在晶圆第一表面中硅衬底上方的中央设置有光学交互区,在设置有光学交互区的一面连接有金属互联结构,硅衬底上光学交互区周围的I/O通过金属互联结构连接到电极垫;金属互联结的表面设置有保护层,并在保护层上形成有台阶状的凸起或凹槽结构;晶圆的第一表面与玻璃片键合在一起,在玻璃片和晶圆之间形成空腔;晶圆的第二表面设置有TSV孔,通过TSV孔穿过硅衬底将电极垫连接到晶圆第二表面上面的焊盘垫,在TSV孔孔壁上依次制作有作钝化层和金属衬里,聚合物材料将TSV孔填充;在晶圆第二表面上制作防焊层,焊球制作在焊盘垫上。本发明改善了现有封装结构中玻璃和硅衬底之间的分层问题,提高了封装可靠性。
搜索关键词: 芯片 尺寸 封装 及其 制造 方法
【主权项】:
大芯片尺寸封装,其特征在于:其包括有晶圆(200),所述晶圆(200)的正面为形成图像传感区的第一表面(201),所述晶圆(200)的负面为第二表面(202);所述晶圆(200)第一表面(201)中硅衬底130上方的中央设置有光学交互区(210),在设置有光学交互区(210)的一面连接有金属互联结构(220),硅衬底(130)上光学交互区(210)周围的I/O通过金属互联结构(220)连接到电极垫(225);金属互联结构(220)的表面设置有保护层(230),并在保护层(230)上形成有台阶状的凸起或凹槽结构;晶圆(200)的第一表面(201)与玻璃片(150)之间通过聚合物连接件(140)键合在一起,玻璃片(150)和晶圆(200)之间设有通过曝光显影工艺形成的空腔;晶圆(200)的第二表面(202)设置有TSV孔(260),通过TSV孔(260)穿过硅衬底(130)将电极垫(225)连接到晶圆(200)第二表面(202)上面的焊盘垫(175),在TSV孔(260)孔壁上依次制作有作钝化层(265)和金属衬里(270),并用聚合物胶将TSV孔(260)填充;晶圆(200)第二表面(202)上制作有防焊层(180),焊球190制作在焊盘垫(175)上。
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