[发明专利]大芯片尺寸封装及其制造方法有效
申请号: | 201210478706.X | 申请日: | 2012-11-22 |
公开(公告)号: | CN103000648A | 公开(公告)日: | 2013-03-27 |
发明(设计)人: | 秦飞;武伟;安彤;刘程艳;陈思;夏国峰;朱文辉 | 申请(专利权)人: | 北京工业大学 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146 |
代理公司: | 北京思海天达知识产权代理有限公司 11203 | 代理人: | 魏聿珠 |
地址: | 100124 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 大芯片尺寸封装及其制造方法,属于传感器技术领域。在晶圆第一表面中硅衬底上方的中央设置有光学交互区,在设置有光学交互区的一面连接有金属互联结构,硅衬底上光学交互区周围的I/O通过金属互联结构连接到电极垫;金属互联结的表面设置有保护层,并在保护层上形成有台阶状的凸起或凹槽结构;晶圆的第一表面与玻璃片键合在一起,在玻璃片和晶圆之间形成空腔;晶圆的第二表面设置有TSV孔,通过TSV孔穿过硅衬底将电极垫连接到晶圆第二表面上面的焊盘垫,在TSV孔孔壁上依次制作有作钝化层和金属衬里,聚合物材料将TSV孔填充;在晶圆第二表面上制作防焊层,焊球制作在焊盘垫上。本发明改善了现有封装结构中玻璃和硅衬底之间的分层问题,提高了封装可靠性。 | ||
搜索关键词: | 芯片 尺寸 封装 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
大芯片尺寸封装,其特征在于:其包括有晶圆(200),所述晶圆(200)的正面为形成图像传感区的第一表面(201),所述晶圆(200)的负面为第二表面(202);所述晶圆(200)第一表面(201)中硅衬底130上方的中央设置有光学交互区(210),在设置有光学交互区(210)的一面连接有金属互联结构(220),硅衬底(130)上光学交互区(210)周围的I/O通过金属互联结构(220)连接到电极垫(225);金属互联结构(220)的表面设置有保护层(230),并在保护层(230)上形成有台阶状的凸起或凹槽结构;晶圆(200)的第一表面(201)与玻璃片(150)之间通过聚合物连接件(140)键合在一起,玻璃片(150)和晶圆(200)之间设有通过曝光显影工艺形成的空腔;晶圆(200)的第二表面(202)设置有TSV孔(260),通过TSV孔(260)穿过硅衬底(130)将电极垫(225)连接到晶圆(200)第二表面(202)上面的焊盘垫(175),在TSV孔(260)孔壁上依次制作有作钝化层(265)和金属衬里(270),并用聚合物胶将TSV孔(260)填充;晶圆(200)第二表面(202)上制作有防焊层(180),焊球190制作在焊盘垫(175)上。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的