[发明专利]一种双面制程方法及曝光装置无效

专利信息
申请号: 201210477747.7 申请日: 2012-11-21
公开(公告)号: CN102968000A 公开(公告)日: 2013-03-13
发明(设计)人: 王灿;何璇 申请(专利权)人: 京东方科技集团股份有限公司
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20;G03F9/00;G03F1/42
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 韩国胜
地址: 100015 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及半导体和液晶显示器领域,尤其涉及半导体和液晶显示器制作过程中双面制程方法及曝光装置,即在曝光操作过程中,首先对曝光机内两张光掩模进行设备内的对位处理,再将基板运送到曝光装置的两张光掩模之间,然后进行该基板双面图形的制作。该曝光装置包括两张掩光板,需要加工的基板设置在所述两张掩光板之间;所述两张掩光板上分别设有掩光板对位标识。本发明在基板图案双面制程时,对掩光板预先进行对位操作,保证了基板双面图案的精确,保证了产品的质量。
搜索关键词: 一种 双面 方法 曝光 装置
【主权项】:
一种双面制程方法,其特征在于,在曝光操作过程中,包括以下步骤:S1:对曝光装置内两张掩光板进行对位处理;S2:将基板运送到曝光装置的两张掩光板之间;S3:在所述基板上进行双面图形的曝光操作。
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