[发明专利]对光纤耦合式激光二极管进行检查的检查方法有效

专利信息
申请号: 201210452689.2 申请日: 2012-11-13
公开(公告)号: CN102937514A 公开(公告)日: 2013-02-20
发明(设计)人: 王舜祺 申请(专利权)人: 美迪亚印刷设备(杭州)有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02;G01B11/27;G01B11/26
代理公司: 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 代理人: 宋晓宝;郭晓东
地址: 311231 浙江省杭州*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明提供一种对光纤耦合式激光二极管进行检查的检查方法,其特征在于,包括:光纤耦合式激光二极管设置工序,将光纤耦合式激光二极管设置在夹具上;观察光学系统设置工序,将观察光学系统设置在所述光纤耦合式激光二极管的出射光的光路的下游侧;判定工序,通过所述观察光学系统中的CCD相机观察所述光纤耦合式激光二极管的出射光来判定是否存在设置错误。
搜索关键词: 光纤 耦合 激光二极管 进行 检查 方法
【主权项】:
一种对光纤耦合式激光二极管进行检查的检查方法,其特征在于,包括:光纤耦合式激光二极管设置工序,将光纤耦合式激光二极管设置在夹具上;观察光学系统设置工序,将观察光学系统设置在所述光纤耦合式激光二极管的出射光的光路的下游侧;判定工序,通过所述观察光学系统中的CCD相机观察所述光纤耦合式激光二极管的出射光来判定是否存在设置错误。
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