[发明专利]对光纤耦合式激光二极管进行检查的检查方法有效
申请号: | 201210452689.2 | 申请日: | 2012-11-13 |
公开(公告)号: | CN102937514A | 公开(公告)日: | 2013-02-20 |
发明(设计)人: | 王舜祺 | 申请(专利权)人: | 美迪亚印刷设备(杭州)有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02;G01B11/27;G01B11/26 |
代理公司: | 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 | 代理人: | 宋晓宝;郭晓东 |
地址: | 311231 浙江省杭州*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种对光纤耦合式激光二极管进行检查的检查方法,其特征在于,包括:光纤耦合式激光二极管设置工序,将光纤耦合式激光二极管设置在夹具上;观察光学系统设置工序,将观察光学系统设置在所述光纤耦合式激光二极管的出射光的光路的下游侧;判定工序,通过所述观察光学系统中的CCD相机观察所述光纤耦合式激光二极管的出射光来判定是否存在设置错误。 | ||
搜索关键词: | 光纤 耦合 激光二极管 进行 检查 方法 | ||
【主权项】:
一种对光纤耦合式激光二极管进行检查的检查方法,其特征在于,包括:光纤耦合式激光二极管设置工序,将光纤耦合式激光二极管设置在夹具上;观察光学系统设置工序,将观察光学系统设置在所述光纤耦合式激光二极管的出射光的光路的下游侧;判定工序,通过所述观察光学系统中的CCD相机观察所述光纤耦合式激光二极管的出射光来判定是否存在设置错误。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于美迪亚印刷设备(杭州)有限公司,未经美迪亚印刷设备(杭州)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210452689.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。