[发明专利]一种增强焊球与UBM粘附性的方法及封装结构无效
申请号: | 201210425918.1 | 申请日: | 2012-10-30 |
公开(公告)号: | CN103794583A | 公开(公告)日: | 2014-05-14 |
发明(设计)人: | 朱春生;罗乐;徐高卫;王双福;叶交托 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 |
主分类号: | H01L23/488 | 分类号: | H01L23/488;H01L21/60 |
代理公司: | 上海光华专利事务所 31219 | 代理人: | 李仪萍 |
地址: | 200050 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明提供一种增强焊球与UBM粘附性的方法,其主要步骤为:首先对焊盘表面进行处理并溅射粘附层和种子层,之后电镀金属铜,电镀完成之后在铜UBM上制作凹坑,可通过腐蚀或激光打孔的方法来实现;最后制作焊球并回流。通过以上步骤,可使焊球与UBM之间的结合面积更大,粘附能力更强,提高了封装可靠性。本发明不需要添加制作额外的粘附材料,只需要在UBM上制作多个凹坑,增加焊球与UBM的接触面积,以提高其粘附性能。 | ||
搜索关键词: | 一种 增强 ubm 粘附 方法 封装 结构 | ||
【主权项】:
一种增强焊球与UBM粘附性的封装结构,其特征在于,该封装结构包括芯片、设置在该芯片上表面的焊盘、位于该焊盘上的粘附/种子层、位于该粘附/种子层上的金属层以及位于金属层上的焊球;所述金属层上表面凹设有若干凹坑,所述焊球底部形成若干与所述凹坑接触配合的凸起;或者所述金属层上表面设有若干凸起,所述焊球底部形成若干与所述凸起接触配合的凹坑。
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