[发明专利]使用相位调制进行磁缺陷分类无效

专利信息
申请号: 201210398642.2 申请日: 2012-10-19
公开(公告)号: CN103065656A 公开(公告)日: 2013-04-24
发明(设计)人: R.L.加尔布雷思;W.M.汉森;M.A.哈斯纳;T.R.奥伊宁;山本智 申请(专利权)人: HGST荷兰公司
主分类号: G11B20/10 分类号: G11B20/10;G11B27/36
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 吕晓章
地址: 荷兰阿*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 发明提供了一种使用相位调制进行硬盘驱动器磁缺陷分类的方法、设备和系统。对硬盘驱动器的磁性介质回读信号进行处理以识别预定义的相位调制(PM)特性,从而进行磁性介质凸起和凹坑缺陷的磁缺陷分类。
搜索关键词: 使用 相位 调制 进行 缺陷 分类
【主权项】:
一种用于实现硬盘驱动器磁缺陷分类的方法,包括:接收回读信号并产生模拟‑数字转换器(ADC)回读信号样本;处理所述ADC回读信号样本并生成相位调制(PM)信号;以及使用所述相位调制(PM)信号对磁性介质凸起和凹坑缺陷进行分类。
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