[发明专利]使用相位调制进行磁缺陷分类

权利要求书

1.一种用于实现硬盘驱动器磁缺陷分类的方法，包括：

接收回读信号并产生模拟-数字转换器（ADC）回读信号样本；

处理所述ADC回读信号样本并生成相位调制（PM）信号；以及

使用所述相位调制（PM）信号对磁性介质凸起和凹坑缺陷进行分类。

2.如权利要求1所述的用于实现磁缺陷分类的方法，其中处理所述ADC回读信号样本并生成相位调制（PM）信号进一步包括生成幅度调制（AM）信号。

3.如权利要求2所述的用于实现磁缺陷分类的方法，包括使用所述相位调制（PM）信号和所述幅度调制（AM）信号，以对磁性介质凸起和凹坑缺陷进行分类。

4.如权利要求2所述的用于实现磁缺陷分类的方法，包括使用所述相位调制（PM）信号并识别缺陷窗口。

5.如权利要求1所述的用于实现磁缺陷分类的方法，其中处理所述ADC回读信号样本并生成相位调制（PM）信号包括对所述ADC回读信号样本信号进行带通滤波。

6.如权利要求5所述的用于实现磁缺陷分类的方法，包括通过赋值相邻的ADC样本对形成复数德尔塔向量。

7.如权利要求6所述的用于实现磁缺陷分类的方法，其中所述回读信号是2T模式回读信号并包括赋值被表示为如下的2T模式相邻ADC样本对：

0→ΔV_n=+x_n+1+jx_n(x_n是0,x_n+1是+峰值)

1→ΔV_n=+x_n-jx_n+1(x_n是+峰值,x_n+1是0)

2→ΔV_n=-x_n+1-jx_n(x_n是0,x_n+1是-峰值)

3→ΔV_n=-x_n+jx_n+1(x_n是-峰值,x_n+1是0)

8.如权利要求6所述的用于实现磁缺陷分类的方法，包括使用迭代的移位和加法算法进行三角计算。

9.如权利要求8所述的用于实现磁缺陷分类的方法，包括旋转所述复数德尔塔向量以提供正实数向量。

10.一种用于实现硬盘驱动器磁缺陷分类的设备，包括：

接收回读信号并产生ADC回读信号样本的模拟-数字转换器（ADC）；

与所述ADC耦合、接收所述ADC回读信号样本并生成相位调制（PM）信号的信号处理电路；以及

与所述信号处理电路耦合、使用所述相位调制（PM）信号对磁性介质凸起和凹坑缺陷进行分类的缺陷分类函数单元。

11.如权利要求10所述的用于实现磁缺陷分类的设备，其中所述信号处理电路生成幅度调制（AM）信号。

12.如权利要求11所述的用于实现磁缺陷分类的设备，其中所述缺陷分类函数单元使用所述相位调制（PM）信号和所述幅度调制（AM）信号，以对磁性介质凸起和凹坑缺陷进行分类。

13.如权利要求10所述的用于实现磁缺陷分类的设备，其中所述信号处理电路包括与所述ADC耦合的对所述ADC回读信号样本进行带通滤波的带通滤波器。

14.如权利要求10所述的用于实现数据检测的设备，其中所述信号处理电路包括与所述带通滤波器耦合的通过赋值相邻ADC样本对形成复数德尔塔向量的德尔塔向量函数单元。