[发明专利]MIM电容器及其制造方法无效
申请号: | 201210388711.1 | 申请日: | 2012-10-12 |
公开(公告)号: | CN102881674A | 公开(公告)日: | 2013-01-16 |
发明(设计)人: | 郑春生 | 申请(专利权)人: | 上海华力微电子有限公司 |
主分类号: | H01L23/522 | 分类号: | H01L23/522;H01L21/02 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 陆花 |
地址: | 201203 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种MIM电容器制造方法,在干法刻蚀介质层形成电容器凹槽之后,湿法刻蚀所述介质层,利用湿法刻蚀各向同性的特点,对所述凹槽电容器沟槽进行腐蚀以使所述电容器凹槽圆角化,随后在所述介质层和电容器凹槽上依次形成下电极、绝缘体以及上电极,所述下电极、绝缘体以及上电极的边角也随之圆滑,有效降低尖端放电的可能性,从而提高电容器操作过程中的可靠性。 | ||
搜索关键词: | mim 电容器 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种MIM电容器制造方法,包括:提供一衬底,所述衬底上形成有介质层;干法刻蚀所述介质层,以形成电容器凹槽;湿法刻蚀所述介质层,以使所述电容器凹槽圆角化;在所述介质层和电容器凹槽上依次形成下电极、绝缘体以及上电极。
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