[发明专利]彩色滤光片上缺陷坐标的检测方法有效
| 申请号： | 201210357215.X | 申请日： | 2012-09-21 |
| 公开（公告）号： | CN102854195A | 公开（公告）日： | 2013-01-02 |
| 发明（设计）人： | 张铁轶;余道平;刘超强;张祥 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 王莹 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种彩色滤光片上缺陷坐标的检测方法，涉及工业检测领域。所述方法包括步骤：捕捉彩色滤光片的图像；对所述图像进行处理，得到所述彩色滤光片上灰阶变化的临界点；根据所述临界点捕捉到所述彩色滤光片上的标记或者所述彩色滤光片的边缘；根据所述彩色滤光片上的标记或者所述彩色滤光片的边缘确定所述彩色滤光片的坐标系，根据所述坐标系输出缺陷坐标。所述方法具有以下优势：省略了显微镜读取Mark的步骤，通过图像处理建立坐标系并输出缺陷坐标数据，既减少了设备的工作周期，提高了检测效率，又提高了对缺陷坐标的检测精度。 | ||
| 搜索关键词： | 彩色 滤光 缺陷 标的 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种彩色滤光片上缺陷坐标的检测方法，其特征在于，包括步骤：A：捕捉彩色滤光片的图像；B：对所述图像进行处理，得到所述彩色滤光片上灰阶变化的临界点；C：根据所述临界点捕捉到所述彩色滤光片上的标记或者所述彩色滤光片的边缘；D：根据所述彩色滤光片上的标记或者所述彩色滤光片的边缘确定所述彩色滤光片的坐标系，根据所述坐标系输出缺陷坐标。
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