[发明专利]彩色滤光片上缺陷坐标的检测方法有效
| 申请号： | 201210357215.X | 申请日： | 2012-09-21 |
| 公开（公告）号： | CN102854195A | 公开（公告）日： | 2013-01-02 |
| 发明（设计）人： | 张铁轶;余道平;刘超强;张祥 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司;北京京东方显示技术有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 王莹 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 彩色 滤光 缺陷 标的 检测 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种彩色滤光片上缺陷坐标的检测方法，其特征在于，包括步骤：
A：捕捉彩色滤光片的图像；
B：对所述图像进行处理，得到所述彩色滤光片上灰阶变化的临界点；
C：根据所述临界点捕捉到所述彩色滤光片上的标记或者所述彩色滤光片的边缘；
D：根据所述彩色滤光片上的标记或者所述彩色滤光片的边缘确定所述彩色滤光片的坐标系，根据所述坐标系输出缺陷坐标。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤A中，通过时间延迟积分电荷耦合元件捕捉彩色滤光片的图像。
3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤B具体包括步骤：
B1：对所述图像进行合成；
B2：对合成后的图像进行灰阶处理，获取所述彩色滤光片上各个像素的灰阶值；
B3：根据所述灰阶值的变化情况，找到所述彩色滤光片上灰阶变化的临界点。
4.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述标记为多个，呈十字形，分别设置在所述彩色滤光片的拐角处。
5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述步骤D之后还包括步骤E：修补设备根据所述缺陷坐标对所述彩色滤光片进行修补。
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