[发明专利]转移叠层的方法以及制造半导体器件的方法有效
| 申请号: | 201210352567.6 | 申请日: | 2003-05-16 |
| 公开(公告)号: | CN102867736A | 公开(公告)日: | 2013-01-09 |
| 发明(设计)人: | 高山彻;后藤裕吾;丸山纯矢;大野由美子 | 申请(专利权)人: | 株式会社半导体能源研究所 |
| 主分类号: | H01L21/20 | 分类号: | H01L21/20;H01L21/762 |
| 代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 汤春龙;王忠忠 |
| 地址: | 日本神奈*** | 国省代码: | 日本;JP |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | 本发明的名称为转移叠层的方法以及制造半导体器件的方法,其目的是提供一种在短时间内将待要剥离的物体转移到转移部件上而不对叠层中待要剥离的物体造成损伤的方法。而且,本发明的另一目的是提供一种制造半导体器件的方法,其中,制造在衬底上的半导体元件被转移到转移部件,典型地说是塑料衬底上。此方法的特征在于包括:在衬底上形成剥离层和待要剥离的物体;通过双面胶带键合待要剥离的物体和支座;用物理方法从剥离层剥离待要剥离的物体,然后将待要剥离的物体键合到转移部件上;以及从待要剥离的物体剥离支座和双面胶带。 | ||
| 搜索关键词: | 转移 方法 以及 制造 半导体器件 | ||
【主权项】:
一种制造半导体器件的方法,它包含:在衬底上形成剥离层;在所述剥离层上形成晶体管;在所述晶体管上形成像素电极;从所述衬底剥离所述晶体管和所述像素电极,以及将胶带键合到所述像素电极;从所述像素电极剥离所述胶带;以及在从所述像素电极剥离所述胶带后,在所述像素电极上形成EL层。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社半导体能源研究所,未经株式会社半导体能源研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210352567.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





