[发明专利]阵列式高压LED器件的制作方法无效

专利信息
申请号: 201210340102.9 申请日: 2012-09-13
公开(公告)号: CN102867837A 公开(公告)日: 2013-01-09
发明(设计)人: 詹腾;张杨;李璟;刘志强;伊晓燕;王国宏 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: H01L27/15 分类号: H01L27/15
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 汤保平
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种阵列式高压LED器件的制作方法,包括:在外延结构的P型氮化镓层上制作掩膜,选择性刻蚀外延结构,形成N型台阶结构;在外延结构的N型氮化镓层的表面制作掩膜,形成隔离的深槽;进行高温硫磷酸腐蚀;在刻蚀后的外延结构的表面沉积绝缘介质层;腐蚀掉深槽侧壁以外的绝缘介质层;在相邻的各N型台阶结构之间制作透明导电层;部分腐蚀掉最外侧的N型台阶结构上面的P型氮化镓层表面的透明导电层;在其上制作P金属电极和N金属电极。本发明可以减少电极吸光,增加芯片外延的侧面与底部出光面积,与后工艺相互配合,可以提高高压发光二极管芯片的发光效率。
搜索关键词: 阵列 高压 led 器件 制作方法
【主权项】:
一种阵列式高压LED器件的制作方法,包括以下步骤:步骤1:取外延结构,该外延结构包括衬底、N型氮化镓层、有源层和P型氮化镓层;步骤2:采用光刻的方法,在外延结构的P型氮化镓层上制作掩膜,选择性刻蚀外延结构,刻蚀深度至N型氮化镓层的表面,在N型氮化镓层上形成N型台阶结构;步骤3:采用光刻的方法,在暴露的外延结构的N型氮化镓层的表面制作掩膜,刻蚀暴露的部分N型氮化镓层,刻蚀深度至衬底的表面,形成隔离的深槽;步骤4:将刻蚀后的外延结构进行高温硫磷酸腐蚀;步骤5:在刻蚀后的外延结构的表面沉积绝缘介质层;步骤6:采用光刻的方法,腐蚀掉深槽侧壁以外的绝缘介质层;步骤7:在相邻的各N型台阶结构之间制作透明导电层,该透明导电层一端覆盖外延结构上的N型氮化镓层,另一端覆盖P型氮化镓层;步骤8:采用光刻的方法,部分腐蚀掉最外侧的N型台阶结构上面的P型氮化镓层表面的透明导电层;步骤9:在最外侧的N型台阶结构上面的P型氮化镓层的表面制作P金属电极;步骤10:在另一最外侧的N型台阶结构上面的N型氮化镓层的表面制作N金属电极。
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