[发明专利]阵列式高压LED器件的制作方法无效
申请号: | 201210340102.9 | 申请日: | 2012-09-13 |
公开(公告)号: | CN102867837A | 公开(公告)日: | 2013-01-09 |
发明(设计)人: | 詹腾;张杨;李璟;刘志强;伊晓燕;王国宏 | 申请(专利权)人: | 中国科学院半导体研究所 |
主分类号: | H01L27/15 | 分类号: | H01L27/15 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 汤保平 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 一种阵列式高压LED器件的制作方法,包括:在外延结构的P型氮化镓层上制作掩膜,选择性刻蚀外延结构,形成N型台阶结构;在外延结构的N型氮化镓层的表面制作掩膜,形成隔离的深槽;进行高温硫磷酸腐蚀;在刻蚀后的外延结构的表面沉积绝缘介质层;腐蚀掉深槽侧壁以外的绝缘介质层;在相邻的各N型台阶结构之间制作透明导电层;部分腐蚀掉最外侧的N型台阶结构上面的P型氮化镓层表面的透明导电层;在其上制作P金属电极和N金属电极。本发明可以减少电极吸光,增加芯片外延的侧面与底部出光面积,与后工艺相互配合,可以提高高压发光二极管芯片的发光效率。 | ||
搜索关键词: | 阵列 高压 led 器件 制作方法 | ||
【主权项】:
一种阵列式高压LED器件的制作方法,包括以下步骤:步骤1:取外延结构,该外延结构包括衬底、N型氮化镓层、有源层和P型氮化镓层;步骤2:采用光刻的方法,在外延结构的P型氮化镓层上制作掩膜,选择性刻蚀外延结构,刻蚀深度至N型氮化镓层的表面,在N型氮化镓层上形成N型台阶结构;步骤3:采用光刻的方法,在暴露的外延结构的N型氮化镓层的表面制作掩膜,刻蚀暴露的部分N型氮化镓层,刻蚀深度至衬底的表面,形成隔离的深槽;步骤4:将刻蚀后的外延结构进行高温硫磷酸腐蚀;步骤5:在刻蚀后的外延结构的表面沉积绝缘介质层;步骤6:采用光刻的方法,腐蚀掉深槽侧壁以外的绝缘介质层;步骤7:在相邻的各N型台阶结构之间制作透明导电层,该透明导电层一端覆盖外延结构上的N型氮化镓层,另一端覆盖P型氮化镓层;步骤8:采用光刻的方法,部分腐蚀掉最外侧的N型台阶结构上面的P型氮化镓层表面的透明导电层;步骤9:在最外侧的N型台阶结构上面的P型氮化镓层的表面制作P金属电极;步骤10:在另一最外侧的N型台阶结构上面的N型氮化镓层的表面制作N金属电极。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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