[发明专利]一种材料延伸率非接触式测量方法在审
| 申请号： | 201210319766.7 | 申请日： | 2012-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN103674737A | 公开（公告）日： | 2014-03-26 |
| 发明（设计）人： | 何雨 | 申请（专利权）人： | 曼胡默尔滤清器（上海）有限公司 |
| 主分类号： | G01N3/28 | 分类号： | G01N3/28 |
| 代理公司： | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人： | 赵志远 |
| 地址： | 201815 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种材料延伸率非接触式测量方法，包括以下步骤：1)在待测样品的两端各划上一道标记线后，固定在拉伸器上；2)拉伸器对待测样品进行拉伸直至断裂，同时摄像机捕捉整个拉伸至断裂的过程影像信息，并将该影像信息发送给计算机；3)计算机从影像信息中提取拉伸前的一副图像和断裂前的最后一副图像；4)计算机分别读取两幅图像上两条标记线之间的像素差，并计算延伸率。与现有技术相比，本发明具有测量精度高、成本低、可重复性高等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 材料 延伸 接触 测量方法 | ||
【主权项】：
一种材料延伸率非接触式测量方法，其特征在于，包括以下步骤：1)在待测样品的两端各划上一道标记线后，固定在拉伸器上；2)拉伸器对待测样品进行拉伸直至断裂，同时摄像机捕捉整个拉伸至断裂的过程影像信息，并将该影像信息发送给计算机；3)计算机从影像信息中提取拉伸前的一副图像和断裂前的最后一副图像；4)计算机分别读取两幅图像上两条标记线之间的像素差，并通过以下公式计算延伸率；Eb＝(Pb‑P0)/P0x100％式中Pb：断裂前的最后一副图像的两条标记线之间的像素值；P0：拉伸前图像的两条标记线之间的像素值。
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