[发明专利]一种材料延伸率非接触式测量方法在审

专利信息
申请号: 201210319766.7 申请日: 2012-08-31
公开(公告)号: CN103674737A 公开(公告)日: 2014-03-26
发明(设计)人: 何雨 申请(专利权)人: 曼胡默尔滤清器(上海)有限公司
主分类号: G01N3/28 分类号: G01N3/28
代理公司: 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 代理人: 赵志远
地址: 201815 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 材料 延伸 接触 测量方法
【权利要求书】:

1.一种材料延伸率非接触式测量方法,其特征在于,包括以下步骤:

1)在待测样品的两端各划上一道标记线后,固定在拉伸器上;

2)拉伸器对待测样品进行拉伸直至断裂,同时摄像机捕捉整个拉伸至断裂的过程影像信息,并将该影像信息发送给计算机;

3)计算机从影像信息中提取拉伸前的一副图像和断裂前的最后一副图像;

4)计算机分别读取两幅图像上两条标记线之间的像素差,并通过以下公式计算延伸率;

Eb=(Pb-P0)/P0x100%

式中Pb:断裂前的最后一副图像的两条标记线之间的像素值;

P0:拉伸前图像的两条标记线之间的像素值。

2.根据权利要求1所述的一种材料延伸率非接触式测量方法,其特征在于,在测试过程中,所述的摄像机位置和角度固定,摄像放大倍数不变。

3.根据权利要求1所述的一种材料延伸率非接触式测量方法,其特征在于,所述的计算机为装有画图软件的计算机。

4.根据权利要求3所述的一种材料延伸率非接触式测量方法,其特征在于,所述的画图软件为Windows操作系统的预载软件。

5.根据权利要求4所述的一种材料延伸率非接触式测量方法,其特征在于,所述的计算机读取图像上标记线的像素具体为:

将图像通过画图软件打开,将鼠标置于标记线位置,即可读取该标记线的像素值。

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