[发明专利]基于智能变电站二次设备场景测试的控制器无效

专利信息
申请号: 201210312383.7 申请日: 2012-08-29
公开(公告)号: CN102854856A 公开(公告)日: 2013-01-02
发明(设计)人: 向前;梁志琴;周文闻 申请(专利权)人: 北京博电新力电气股份有限公司
主分类号: G05B19/418 分类号: G05B19/418;G01R31/00
代理公司: 天津盛理知识产权代理有限公司 12209 代理人: 王利文
地址: 100098 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种基于智能变电站二次设备场景测试的控制器,其技术特点是:包括ARM模块、DSP模块和FPGA模块,ARM模块与DSP模块相连接实现数据传输及配置数据功能,DSP模块与FPGA模块将DSP模块生成的仿真数据输出给FPGA模块,所述的ARM模块设置两个电以太网接口与上位机及保护装置相连接,FPGA模块设有光以太网接口与GOOSE、IEC61588、IRIG-B、智能电子装置相连接,FPGA模块设有光串口与合并器相连接,FPGA模块设有开入量接口及开出量接口与保护装置相连接。本发明设计合理,与上位机配合实现对智能变电站二次设备运行场景的模拟闭环测试,为智能变电站二次设备故障及整站SCD文件的检查提供了测试手段,为系统可靠运行提供保障。
搜索关键词: 基于 智能 变电站 二次 设备 场景 测试 控制器
【主权项】:
一种基于智能变电站二次设备场景测试的控制器,其特征在于:包括ARM模块、DSP模块和FPGA模块,ARM模块与DSP模块相连接实现数据传输及配置数据功能,DSP模块与FPGA模块将DSP模块生成的仿真数据输出给FPGA模块,所述的ARM模块设置两个电以太网接口与上位机及保护装置相连接,FPGA模块设有光以太网接口与GOOSE、IEC61588、IRIG‑B、智能电子装置相连接,FPGA模块设有光串口与合并器相连接,FPGA模块设有开入量接口及开出量接口与保护装置相连接。
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