[发明专利]基于智能变电站二次设备场景测试的控制器

说明书

技术领域

本发明属于电力自动化领域，尤其是一种基于智能变电站二次设备场景测试的控制器。

背景技术

随着智能电网建设的不断深入，各类新型智能二次设备不断涌现。这些新型设备贯穿于智能电网建设的各个环节，为智能电网数据与信息的采集、监测和控制提供了必要的手段和支撑，其性能的优劣已直接关系到电网的安全稳定运行。传统的测试方法是针对单个装置进行故障模拟或测试，目前，还没有从智能站的整站场境环境的闭环测试和模拟的能力和手段，难以发现整个智能变电站系统运行的问题，无法对系统运行提供可靠的保证。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的不足，提供一种设计合理、能够对智能变电站二次设备运行场境进行模拟闭环测试的基于智能变电站二次设备场景测试的控制器。

本发明解决其技术问题是采取以下技术方案实现的：

一种基于智能变电站二次设备场景测试的控制器，包括ARM模块、DSP模块和FPGA模块，ARM模块与DSP模块相连接实现数据传输及配置数据功能，DSP模块与FPGA模块将DSP模块生成的仿真数据输出给FPGA模块，所述的ARM模块设置两个电以太网接口与上位机及保护装置相连接，FPGA模块设有光以太网接口与GOOSE、IEC61588、IRIG-B、智能电子装置相连接，FPGA模块设有光串口与合并器相连接，FPGA模块设有开入量接口及开出量接口与保护装置相连接。

而且，所述的ARM模块通过HPI总线与DSP模块相连接，所述的DSP模块与FPGA模块通过并行总线相连接。

而且，所述的ARM模块包括ARM芯片、以太网PHY芯片、两个以太网变压器、RTC和ARM模块存储器，ARM芯片与RTC芯片相连接由其提供时钟信号，ARM模块通过以太网PHY芯片与两个以太网变压器相连接。

而且，所述的ARM芯片还连接有JTAG接口用于调试程序，ARM芯片还连接UART接口用于升级程序。

而且，所述的ARM芯片还连接有I2C接口用于采集保护装置的温度数据以进行补偿计算。

而且，所述的ARM模块存储器包括FLASH芯片和SDRAM芯片。

而且，所述的DSP模块包括DSP芯片及与其相连接的DSP缓冲区和DSP模块存储器。

而且，DSP模块存储器包括FLASH和SRAM。

而且，所述的FPGA模块包括FPGA芯片、FPGA总线缓冲区、以太网控制芯片和光纤传输器，FPGA芯片通过FPGA总线缓冲区设置开入量接口、开出量接口和光串口，FPGA芯片通过以太网控制芯片与光纤传输器相连接，该光纤传输器设置光以太网接口。

而且，所述的开入量接口为8对，所述的开出量接口为4对，所述的光串口为8个，所述的光以太网接口为8个。

本发明的优点和积极效果是：

本发明设计合理，其通过电以太网接口、光以太网接口、光串口、开入量接口及开出量接口连接到智能变电站系统中，并与上位机配合实现对智能变电站二次设备运行场景的模拟闭环测试，为智能变电站二次设备故障及整站SCD文件的检查提供了测试手段，为系统可靠运行提供保障。

附图说明

图1是本发明的电路框图；

图2是由本发明构成的智能变电站二次设备场景测试系统连接图。

具体实施方式

以下结合附图对本发明做进一步详述。

一种基于智能变电站二次设备场景测试的控制器，如图1所示，包括ARM模块、DSP模块和FPGA模块，ARM模块通过HPI总线与DSP模块相连接，实现数据传输及配置数据功能，ARM模块能够将上位机设置的配置信息实时更新给DSP模块；DSP模块与FPGA模块通过并行总线相连接，DSP通过16位地址线对FPGA进行寻址访问，并通过16位数据总线对FPGA进行读写操作，传输输出的仿真数据。下面分别对三个主要模块进行说明：