[发明专利]基于光度图的几何与表面材质的重建方法有效

专利信息
申请号: 201210288521.2 申请日: 2012-08-14
公开(公告)号: CN102819864A 公开(公告)日: 2012-12-12
发明(设计)人: 齐越;胡勇;张梓峰 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G06T17/00 分类号: G06T17/00
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 杨学明;卢纪
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种基于光度图的几何与表面材质的重建方法,该方法包括如下步骤:(1)材质分割,构造初始化材质权重图,估计Diffuse Albedo。(2)估计表面法向量图。(3)使用Alternating-Constrained-Least-Square方法迭代求解法向量和构建BRDF(bidirectional reflectance distribution function)材质基。(4)增强深度场。以法向量图为基础,通过解Poisson方程得到最小二乘的表面深度信息。本发明可以可靠的从一组已知光照条件的图片序列中,自动恢复出图中物体的不同材质区域、材质属性,以及表面深度信息,对其快速的进行三维重建。
搜索关键词: 基于 光度 几何 表面 材质 重建 方法
【主权项】:
一种基于光度图的几何与表面材质的重建方法,从已知光照情况的一组照片序列中恢复几何与材质基的过程,其特征在于步骤如下:步骤(1)、对所述照片序列中的像素,利用RGB颜色空间到HSV颜色空间的变换,对像素的颜色值聚类;步骤(2)、选择不同光照下同一像素空间中最合适的点,进行材质划分,构造初始化材质权重图,估计初始Diffuse Albedo;步骤(3)、保持步骤(2)得到的权重图和改为Diffuse Albedo不变,使用漫反射的颜色值作为阈值过滤掉高光的像素;步骤(4)、使用Brute‑Force方法列举所有的光源组合,利用Woodham的Lambertian‑Photometric‑Stereo方法计算表面朝向,然后选择Root‑Mean‑Square误差最小的结果作为初试的法向量;使用Alternating‑Constrained‑Least‑Square方法迭代求解法向量和构建BRDF材质基;步骤(5)、固定步骤(1)、步骤(4)得到的法向量和权重图,利用Levenberg‑Marguardt方法优化每一种材质的BRDF模型;步骤(6)、固定步骤(5)得到的BRDF的材质基,使用离散搜索方法,将法向量的自由度约束到一维,根据BRDF材质基,在渲染不同光照下的材质球图片上,搜索最合适的法向量和材质权重;若步骤(6)得到的法向量方向已经收敛,则重新将法向量自由度释放为三维,使用Levenberg‑Marguardt方法优化法向量和材质权重;步骤(7)、增强深度场:以步骤(6)得到的法向量图为基础,通过解Poisson方程得到最小二乘误差的表面深度信息。
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