[发明专利]基于光度图的几何与表面材质的重建方法有效

专利信息
申请号: 201210288521.2 申请日: 2012-08-14
公开(公告)号: CN102819864A 公开(公告)日: 2012-12-12
发明(设计)人: 齐越;胡勇;张梓峰 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G06T17/00 分类号: G06T17/00
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 杨学明;卢纪
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 基于 光度 几何 表面 材质 重建 方法
【权利要求书】:

1.一种基于光度图的几何与表面材质的重建方法,从已知光照情况的一组照片序列中恢复几何与材质基的过程,其特征在于步骤如下:

步骤(1)、对所述照片序列中的像素,利用RGB颜色空间到HSV颜色空间的变换,对像素的颜色值聚类;

步骤(2)、选择不同光照下同一像素空间中最合适的点,进行材质划分,构造初始化材质权重图,估计初始Diffuse Albedo;

步骤(3)、保持步骤(2)得到的权重图和改为Diffuse Albedo不变,使用漫反射的颜色值作为阈值过滤掉高光的像素;

步骤(4)、使用Brute-Force方法列举所有的光源组合,利用Woodham的Lambertian-Photometric-Stereo方法计算表面朝向,然后选择Root-Mean-Square误差最小的结果作为初试的法向量;使用Alternating-Constrained-Least-Square方法迭代求解法向量和构建BRDF材质基;

步骤(5)、固定步骤(1)、步骤(4)得到的法向量和权重图,利用Levenberg-Marguardt方法优化每一种材质的BRDF模型;

步骤(6)、固定步骤(5)得到的BRDF的材质基,使用离散搜索方法,将法向量的自由度约束到一维,根据BRDF材质基,在渲染不同光照下的材质球图片上,搜索最合适的法向量和材质权重;若步骤(6)得到的法向量方向已经收敛,则重新将法向量自由度释放为三维,使用Levenberg-Marguardt方法优化法向量和材质权重;

步骤(7)、增强深度场:以步骤(6)得到的法向量图为基础,通过解Poisson方程得到最小二乘误差的表面深度信息。

2.根据权利要求1所述的基于光度图的几何与表面材质的重建方法,其特征在于:所述步骤(1)中颜色空间的变换方法,其步骤为:每一个像素进行颜色空间转换时,对于照片上的每一个像素ρ,首先同时计算该像素所在位置的n种光照情况下的像素集合P,将其颜色值从RGB颜色空间PRGB转换到HSV颜色空间PHSV,然后剔除V通道上的能量,使用参数(H,S)进行聚类,得到一张深度为n的HSV空间颜色图。

3.根据权利要求1所述的基于光度图的几何与表面材质的重建方法,其特征在于:所述的步骤(2)中估计初始Diffuse Albedo,其步骤为:高光的像素ρ往往在H和V通道上有更大的能量,第一重搜索中,搜索该点的像素几何P中H通道能量最小的点,得到点集P’,则此点集中的像素都不是高光点;其次,在该点集P’中,搜索V通道上能量最大的点,则此点不是阴影点;同一种材质的像素,在非高光和非阴影时,H和S通道值相似,此时利用步骤(1)中HSV空间颜色图,设置合适阈值,进行材质分割,生成多材质权重图;用同一种材质的HSV空间颜色值的平均值,作为该材质的颜色初始值。

4.根据权利要求1所述的基于光度图的几何与表面材质的重建方法,其特征在于:所述的步骤(4)具体为:使用一种Bruit-Force方法,对于照片上某一位置的像素ρi,列举所有可能的光照组合L,对于每一种光照情况Lj,利用Woodham的光度图方法,计算其法向量ni,j,将ni,j代入BRDF模型中,计算其与P集合的最小二乘误差ei,j,最终得到像素ρi的误差集合Ei,选择Ei中最小的Emin,将Emin对应的ni,j作为法向量的初值,避免了光源方向线性相关以及高光和阴影引起的误差。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京航空航天大学,未经北京航空航天大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210288521.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top