[发明专利]片盒监控系统有效
申请号: | 201210287130.9 | 申请日: | 2012-08-13 |
公开(公告)号: | CN103632995A | 公开(公告)日: | 2014-03-12 |
发明(设计)人: | 沈坚 | 申请(专利权)人: | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人: | 王江富 |
地址: | 201203 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 发明公开了一种片盒监控系统,其包括光源发射器、光源接收器、处理器;光源发射器,固定在机械手上,用于发射平行于机械手平面的光线到装载平台的另一侧;光源接收器,设置在装载平台的另一侧,用于接收光源发射器发出的光线,并输出光源发射器发出的光线的受晶圆阻挡区的厚度、受晶圆阻挡区的中心点高度、受晶圆阻挡区一侧边点位的高度;处理器用于根据受晶圆阻挡区的厚度、受晶圆阻挡区的中心点高度、受晶圆阻挡区一侧边点位的高度,输出片盒前后或左右倾斜告警信号。本发明的片盒监控系统,能准确监控片盒倾斜状态。 | ||
搜索关键词: | 监控 系统 | ||
【主权项】:
一种片盒监控系统,其特征在于,包括装载平台、机械手、光源发射器、光源接收器、处理器;所述装载平台,用于放置片盒;所述机械手,位于所述装载平台的一侧,用于到装载平台上放置的片盒中取放晶圆;所述光源发射器,固定在所述机械手上,用于发射平行于所述机械手平面的光线到所述装载平台的另一侧;所述光源接收器,设置在所述装载平台的另一侧,用于接收所述光源发射器发出的光线,并输出所述光源发射器发出的光线的受晶圆阻挡区的厚度、受晶圆阻挡区的中心点高度、受晶圆阻挡区一侧边点位的高度;所述处理器,用于根据所述光源接收器输出的受晶圆阻挡区的厚度、受晶圆阻挡区的中心点高度、受晶圆阻挡区一侧边点位的高度,输出片盒前后或左右倾斜告警信号。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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