[发明专利]MEMS传感器中的多层NONON膜有效

专利信息
申请号: 201210280768.X 申请日: 2012-08-08
公开(公告)号: CN102951592A 公开(公告)日: 2013-03-06
发明(设计)人: 威廉·弗雷德里克·亚德里亚内斯·贝什林 申请(专利权)人: NXP股份有限公司
主分类号: B81B3/00 分类号: B81B3/00;B81C1/00;G01L9/12
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 王波波
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 各种实施例涉及一种MEMS压力传感器及其制造方法。该MEMS压力传感器包括:下电极;第一绝缘层,在所述下电极上方;第二绝缘层,在所述第一绝缘层上方,在所述第一绝缘层和第二绝缘层之间形成腔体;上电极,在所述第二绝缘层上方,其中,所述腔体的一部分在所述上电极和下电极之间;以及NONON压力膜,在所述上电极上方。
搜索关键词: mems 传感器 中的 多层 nonon
【主权项】:
一种MEMS压力传感器,包括:下电极;上电极,在所述下电极上方;绝缘层,在所述下电极与上电极之间,其在所述上下电极与下电极之间形成腔体;以及NONON压力膜,在所述上电极上方。
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