[发明专利]一种局部特征描述方法有效
申请号: | 201210243989.X | 申请日: | 2012-07-13 |
公开(公告)号: | CN102842133B | 公开(公告)日: | 2019-05-14 |
发明(设计)人: | 李宏亮;宋铁成 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | G06K9/46 | 分类号: | G06K9/46 |
代理公司: | 电子科技大学专利中心 51203 | 代理人: | 李明光 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种局部特征描述方法,首先对获得的局部兴趣区域归一化,然后利用极坐标采样网格划分局部块,对局部块进行量化采样,将其映射为2维矩阵并提取2维DCT频域特征,再按zigzag顺序扫描DCT系数矩阵,重排和筛选DCT特征,形成最终的局部描述符。本发明使用极坐标采样结构,不仅保留了局部块的原始空域信息,而且能够容忍一定的形变,增强描述符的鲁棒性。2维DCT特征计算简单,高效,且具紧致性,筛选后的DCT特征进一步去除了光照影响。 | ||
搜索关键词: | 一种 局部 特征 描述 方法 | ||
【主权项】:
1.一种局部特征描述方法,其特征在于,包括步骤:预处理步骤:将检测出的图像局部特征区域映射到到大小为d×d的局部块;极网格采样和映射步骤:以局部块中心为原点,在径向上采用分格数N,角度方向分格数M得到分格数为M×N的极坐标网格;分别对获得的极坐标网格的每个分格进行采样,并映射到2维的M×N矩阵上,在角度方向的分格数为θ的分格的采样值对应矩阵的第θ行,在径向上的分格数为ρ的分格的采样值对应矩阵的第ρ列;其中,θ∈{0,…,M‑1},ρ∈{0,…,N‑1};离散余弦变换DCT系数计算和扫描步骤:对2维的M×N矩阵计算其2维的DCT系数,按照z字形扫描方式对计算的DCT系数矩阵从左上角依次扫描至右下角形成1维特征向量;描述符生成步骤:取1维特征向量中除第1个系数之外的前T个系数作为当前图像局部特征区域的描述符。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于电子科技大学,未经电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210243989.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种新型浮子液压传动海洋波浪能发电装置
- 下一篇:水平涡流干式磁选机