[发明专利]一种超分辨显微方法和装置有效
申请号: | 201210227898.7 | 申请日: | 2012-06-29 |
公开(公告)号: | CN102735617A | 公开(公告)日: | 2012-10-17 |
发明(设计)人: | 匡翠方;李帅;郝翔;顾兆泰;刘旭 | 申请(专利权)人: | 浙江大学 |
主分类号: | G01N21/17 | 分类号: | G01N21/17;G01N21/64;G02B21/06 |
代理公司: | 杭州天勤知识产权代理有限公司 33224 | 代理人: | 胡红娟 |
地址: | 310027 浙*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明公开了一种超分辨显微方法和装置,其中方法包括:将激光器发出的激光光束准直后转换为线偏振光;线偏振光经第一次相位调制后进行光路偏转;偏转后的光束经聚焦和准直后转换为圆偏振光投射到待测样品上,收集待测样品各扫描点发出的信号光,得到第一信号光强;切换调制函数,对线偏振光进行第二次相位调制后投射到待测样品上,收集待测样品各扫描点发出的信号光,得到第二信号光强;计算有效信号光强,并得到超分辨图像。本发明装置简单,操作方便;可以在较低的光功率条件下实现超衍射极限的分辨率;成像速度快,在每一帧图像的扫描点数为512×512的情况下,帧频可达到每秒15帧以上。 | ||
搜索关键词: | 一种 分辨 显微 方法 装置 | ||
【主权项】:
1.一种超分辨显微方法,其特征在于,包括以下步骤:1)将激光器发出的激光光束准直后转换为线偏振光;2)对所述线偏振光进行相位调制,调制函数为
其中,ρ为光束上某点与光轴的距离,
为光束垂直光轴剖面内位置极坐标矢量与x轴的夹角;3)将所述相位调制后的线偏振光进行光路偏转;4)偏转后的光束经聚焦和准直后转换为圆偏振光投射到待测样品上,以实现对待测样品的二维扫描;5)在二维扫描过程中收集所述待测样品各扫描点发出的信号光,滤去杂散光得到第一信号光强I1(x,y),其中x,y为扫描点的二维坐标;6)将步骤2)中的调制函数切换为
ρ为光束上某点与光轴的距离,
为光束垂直光轴剖面内位置极坐标矢量与x轴的夹角;7)重复步骤3)和步骤4),对步骤5)中的各扫描点进行第二次扫描,收集得到的第二信号光强I2(x,y);8)根据公式I(x,y)=I1(x,y)-γI2(x,y)计算有效信号光强I(x,y),并利用I(x,y)得到超分辨图像,其中,![]()
为第一信号光强I1(x,y)中的最大值,
为第二信号光强I2(x,y)中的最大值。
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