[发明专利]一种电场下倾斜硅纳米线阵列的制备方法无效

专利信息
申请号: 201210191475.4 申请日: 2012-06-12
公开(公告)号: CN102694075A 公开(公告)日: 2012-09-26
发明(设计)人: 胡俊青;李文尧;李高;刘倩;彭彦玲;薛雅芳;蒋林 申请(专利权)人: 东华大学
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18
代理公司: 上海泰能知识产权代理事务所 31233 代理人: 黄志达;谢文凯
地址: 201620 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及一种电场下倾斜硅纳米线阵列的制备方法,包括:(1)将硅片依次用去离子水、酒精、丙酮超声清洗5~20分钟,用去离子水清洗后再置于氧化剂溶液中浸泡5~30分钟,接着转移到氢氟酸溶液中浸泡1~10分钟,得到清洗后的硅片;(2)将上述清洗后的硅片置于刻蚀液中,然后外加匀强电场,常压下加热到40~90℃,并保温30~90分钟;最后用浓硝酸溶液清除银纳米粒子后真空干燥,即得。本发明的制备方法成本低廉、操作简单,得到的倾斜硅纳米线阵列相比垂直硅纳米线阵列具有更好的陷光效应和更高的光电转化效率,拓展了硅半导体在光电纳米器件的应用领域。
搜索关键词: 一种 电场 倾斜 纳米 阵列 制备 方法
【主权项】:
一种电场下倾斜硅纳米线阵列的制备方法,包括:(1)将硅片依次用去离子水、酒精、丙酮超声清洗5~20分钟,用去离子水清洗后再置于氧化剂溶液中浸泡5~30分钟,接着转移到氢氟酸溶液中浸泡1~10分钟,得到清洗后的硅片;(2)将上述清洗后的硅片置于刻蚀液中,然后外加匀强电场,常压下加热到40~90℃,并保温30~90分钟;最后用浓硝酸溶液清除银纳米粒子后真空干燥,即得。
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