[发明专利]一种采用硅合金的多层金属欧姆接触系统及其制造方法无效

专利信息
申请号: 201210178089.1 申请日: 2012-06-01
公开(公告)号: CN102738224A 公开(公告)日: 2012-10-17
发明(设计)人: 任春江;陈堂胜 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第五十五研究所
主分类号: H01L29/45 分类号: H01L29/45;H01L29/778;H01L21/28;H01L21/335
代理公司: 南京君陶专利商标代理有限公司 32215 代理人: 沈根水
地址: 210016 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明是一种采用硅合金的多层金属欧姆接触系统及其制造方法,其结构是AlGaN/GaNHEMT的源电极16和漏电极17的欧姆接触采用TiSi/Al/Ni/Au或者Ti/AlSi/Ni/Au或者TiSi/AlSi/Ni/Au的多层金属系统,其中TiSi、AlSi合金由双源电子束蒸发或者溅射淀积,Al、Ni和Au采用电子束蒸发或者溅射淀积。本发明的优点是制作的欧姆接触具有较小的接触电阻,同时能够较好的控制工艺的重复性。
搜索关键词: 一种 采用 合金 多层 金属 欧姆 接触 系统 及其 制造 方法
【主权项】:
一种采用硅合金的铝镓氮/氮化镓高电子迁移率晶体管的多层金属欧姆接触系统,其特征在于铝镓氮/氮化镓高电子迁移率晶体管源电极(16)和漏电极(17)所采用的欧姆接触金属系统从AlGaN层(13)上表面处依次为第一TiSi合金金属层(51)、Al金属层(52)、第一阻挡金属层(53),以及第一Au金属层(54),所述的第一阻挡金属层(53)由Ni、Mo、Pt、Ti中的一种或者多种金属的组合而成。
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