[发明专利]多层透明导电薄膜的制备方法无效

专利信息
申请号: 201210162353.2 申请日: 2012-05-18
公开(公告)号: CN102677012A 公开(公告)日: 2012-09-19
发明(设计)人: 龙国云;耿永友 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35;C23C14/06;C23C14/14;C23C14/58
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人: 张泽纯
地址: 201800 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种多层透明导电薄膜的制备方法,所述的多层透明导电薄膜的结构包括衬底,在该衬底上依次是ZnS-SiO2层、Ag层和ZnS-SiO2层,制备方法包括如下:磁控溅射方法在玻璃衬底或有机柔性衬底上依次溅射沉积ZnS-SiO2、Ag、ZnS-SiO2。其中ZnS-SiO2靶材中SiO2含量摩尔百分比不高于20%。溅射过程中衬底温度为室温,各膜层厚度为ZnS-SiO2:30~45nm,Ag:5~18nm。沉积薄膜样品在80~300℃下退火处理,保温时间为0.5-1小时,本发明可获得平均透过率80%以上,表面电阻15Ω/sq以下,具有高度环境稳定性透明导电薄膜。
搜索关键词: 多层 透明 导电 薄膜 制备 方法
【主权项】:
一种多层透明导电薄膜的制备方法,所述的多层透明导电薄膜的结构包括衬底(1)、在该衬底(1)上依次是ZnS‑SiO2层(2)、Ag层(3)和ZnS‑SiO2层(2),其特征在于制备过程如下:a.磁控溅射靶材为高纯ZnS‑SiO2和Ag靶材,其中ZnS‑SiO2靶材中SiO2的摩尔百分含量不高于20%;b.将基板,在丙酮、乙醇、去离子水中依次超声清洗,之后用高纯氮气吹干,获得衬底(1);c.将衬底放于磁控溅射反应室,反应室真空至少抽到3.8×10‑4Pa,通入高纯氩气作为工作气体,压强为0.5~5pa;d.射频溅射沉积ZnS‑SiO2膜层,溅射功率为80~100w,通过调整溅射时间控制膜层厚度,控制ZnS‑SiO2膜层厚度:30~45nm;e.直流溅射沉积Ag膜层,溅射功率为30~50w,通过调整溅射时间控制膜层厚度,控制Ag膜层厚度为:5~18nm。f.再次射频溅射沉积ZnS‑SiO2膜层,溅射功率为80~100w,控制ZnS‑SiO2膜层厚度:30~45nm。
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