[发明专利]存储数据测试方法、装置及系统有效
| 申请号： | 201210133666.5 | 申请日： | 2012-04-28 |
| 公开（公告）号： | CN103377103B | 公开（公告）日： | 2017-10-03 |
| 发明（设计）人： | 郭华定 | 申请（专利权）人： | 珠海格力电器股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司11240 | 代理人： | 吴贵明,余刚 |
| 地址： | 519070 *** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种存储数据测试方法、装置及系统，该方法包括通过ARM工装读取IIC芯片的存储数据；将存储数据与预先设置的默认数据进行对比；根据对比结果生成对比报告。本发明通过自动读取IIC芯片的存储数据，并与默认数据进行对比，生成对比报告，从而实现了存储数据测试的智能化，且提高了测试效率和准确率。 | ||
| 搜索关键词： | 存储 数据 测试 方法 装置 系统 | ||
【主权项】：
一种存储数据测试方法，其特征在于包括：通过采用两芯通信线与Labview软件连接的ARM工装读取IIC芯片的存储数据；通过所述Labview软件将所述存储数据与预先设置的默认数据进行对比，其中，所述默认数据是预先写入ARM的；通过所述Labview软件根据对比结果生成对比报告，在根据对比结果生成对比报告之后，当所述对比报告显示所述存储数据存在错误时，通过与所述Labview软件连接的所述ARM工装将所述默认数据重新写入所述IIC芯片中。
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