[发明专利]存储数据测试方法、装置及系统

说明书

技术领域

本发明涉及嵌入式自动化测试领域，具体而言，涉及一种存储数据测试方法、装置及系统。

背景技术

目前所有涉及程序开发的电子产品，都面临可靠性的问题，如何提高产品质量，必须要有可靠的实验测试方法验证，而IIC芯片数据多，验证难度大。

目前较先进的测试方法如下：用ALL11等芯片烧写设备读取IIC芯片中存储的数据，然后保存数据到PC机上，再人工放到EXCEL表格中，用已知的定义表与需要保存的数据进行对比。然后人工核查对比结果并生成对比报告。

上述方法完全人工操作，测试数据的效率低，测试一个IIC芯片须要2至5天(根据数据量而定)，且不能自动出测试对比报告。

发明内容

本发明提供了一种存储数据测试方法、装置及系统，以至少解决相关技术中，IIC芯片存储数据的测试是人工操作，效率低的问题。

根据本发明的一个方面，提供了一种存储数据测试方法，包括：通过ARM工装读取IIC芯片的存储数据；将存储数据与预先设置的默认数据进行对比；根据对比结果生成对比报告。

优选地，在根据对比结果生成对比报告之后，上述方法还包括：当对比报告显示存储数据存在错误时，通过ARM工装将默认数据重新写入IIC芯片中。

优选地，默认数据包括以下至少之一：压缩机运行频率、内外风机转速、制冷/制热内环补偿、保护值、化霜时间。

优选地，对比报告包括以下至少之一：数据名称、数据地址、预先设置的默认数据、读取的存储数据、异常数据、测试结论。

优选地，所述对比报告是EXCEL格式，其中包括对异常数据进行提示。

根据本发明的另一个方面，提供了一种存储数据测试装置，包括：读取模块，用于通过ARM工装读取IIC芯片的存储数据；对比模块，用于将存储数据与预先设置的默认数据进行对比；生成模块，用于根据对比结果生成对比报告。

优选地，上述装置还包括：写入模块，用于在对比报告显示存储数据存在错误的情况下，通过ARM工装将默认数据重新写入IIC芯片中。

优选地，默认数据包括以下至少之一：压缩机运行频率、内外风机转速、制冷/制热内环补偿、保护值、化霜时间。

优选地，对比报告包括以下至少之一：数据名称、数据地址、预先设置的默认数据、读取的存储数据、异常数据、测试结论。

优选地，所述对比报告是EXCEL格式，其中包括对异常数据进行提示。

根据本发明的再一个方面，提供了一种存储数据测试系统，包括ARM工装、IIC芯片和操作平台，其中，操作平台用于通过ARM工装读取IIC芯片的存储数据，将存储数据与预先设置的默认数据进行对比，并根据对比结果生成对比报告。

优选地，上述操作平台还用于在对比报告显示存储数据存在错误的情况下，通过ARM工装将默认数据重新写入IIC芯片中。

优选地，操作平台与ARM工装通过RS232转换器连接，ARM工装与IIC芯片通过通信线连接。

优选地，上述操作平台是计算机软件操作平台。

本发明通过自动读取IIC芯片的存储数据，并与默认数据进行对比，生成对比报告，从而实现了存储数据测试的智能化，且提高了测试效率和准确率。

附图说明

此处所说明的附图用来提供对本发明的进一步理解，构成本申请的一部分，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1是根据本发明实施例的存储数据测试方法的流程图；

图2是根据本发明实施例的对比报告的示意图；

图3是根据本发明实施例的存储数据测试装置的结构框图；

图4是根据本发明优选实施例的存储数据测试装置的结构框图；

图5是根据本发明实施例的存储数据测试系统的结构框图；

图6是根据本发明优选实施例的存储数据测试系统的连接示意图；

图7是根据本发明优选实施例的Labview软件的操作流程图；

图8是根据本发明优选实施例的存储数据测试方法的流程图一；

图9是根据本发明优选实施例的存储数据测试方法的流程图二；

图10是根据本发明优选实施例的存储数据测试方法的流程图三。

具体实施方式

需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。