[发明专利]一种光谱和空间信息结合的高光谱数据非均一校正方法有效
| 申请号: | 201210125152.5 | 申请日: | 2012-04-25 |
| 公开(公告)号: | CN102682430A | 公开(公告)日: | 2012-09-19 |
| 发明(设计)人: | 赵慧洁;江澄;贾国瑞 | 申请(专利权)人: | 北京航空航天大学 |
| 主分类号: | G06T5/00 | 分类号: | G06T5/00;G06T7/00 |
| 代理公司: | 北京慧泉知识产权代理有限公司 11232 | 代理人: | 王顺荣;唐爱华 |
| 地址: | 100191*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | 一种光谱和空间信息结合的高光谱数据非均一校正方法,它有六大步骤:一、高光谱数据的读入;二、由边缘检测算子计算每一个单波段图像中非均一特征的边缘;三、由步骤二提取的非均一特征边缘实现图像分割,判定响应非均一探元的位置;四、由步骤三响应非均一探元位置确定参考探元位置,并计算相应的光谱维比率;五、由步骤四探元光谱维比率计算响应非均一探元的校正系数;六、由校正系数实现响应非均一像元值的更新,实现非均一性校正。本发明能稳定的分离图像中的非均一特征,并结合光谱和空间信息获得更可靠的校正结果,它在高光谱图像预处理领域里具有较好的实用价值和广阔的应用前景。 | ||
| 搜索关键词: | 一种 光谱 空间 信息 结合 数据 均一 校正 方法 | ||
【主权项】:
一种光谱和空间信息结合的高光谱数据非均一校正方法,其特征在于:该方法具体步骤如下:步骤一:高光谱数据的读入;步骤二:由边缘检测算子计算每一个单波段图像中非均一特征的边缘;步骤三:由步骤二提取的非均一特征边缘实现图像分割,判定响应非均一探元的位置;步骤四:由步骤三响应非均一探元位置确定参考探元位置,并计算相应的光谱维比率;步骤五:由步骤四探元光谱维比率计算响应非均一探元的校正系数;步骤六:由校正系数实现响应非均一像元值的更新,实现非均一性校正。
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