[发明专利]一种光谱和空间信息结合的高光谱数据非均一校正方法有效

专利信息
申请号: 201210125152.5 申请日: 2012-04-25
公开(公告)号: CN102682430A 公开(公告)日: 2012-09-19
发明(设计)人: 赵慧洁;江澄;贾国瑞 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00;G06T7/00
代理公司: 北京慧泉知识产权代理有限公司 11232 代理人: 王顺荣;唐爱华
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 光谱 空间 信息 结合 数据 均一 校正 方法
【权利要求书】:

1.一种光谱和空间信息结合的高光谱数据非均一校正方法,其特征在于:该方法具体步骤如下:

步骤一:高光谱数据的读入;

步骤二:由边缘检测算子计算每一个单波段图像中非均一特征的边缘;

步骤三:由步骤二提取的非均一特征边缘实现图像分割,判定响应非均一探元的位置;

步骤四:由步骤三响应非均一探元位置确定参考探元位置,并计算相应的光谱维比率;

步骤五:由步骤四探元光谱维比率计算响应非均一探元的校正系数;

步骤六:由校正系数实现响应非均一像元值的更新,实现非均一性校正。

2.根据权利要求1所述的一种光谱和空间信息结合的高光谱数据非均一校正方法,其特征在于:步骤二中所述的边缘检测算子为Sobel算子,定义如下:

h1=-101-202-101,]]>h2=121000-1-2-1]]>

式中,h1、h2分别是垂直方向和水平方向的边缘检测算子;根据高光谱数据中的非均一特征选择相应方向的边缘检测算子。

3.根据权利要求1所述的一种光谱和空间信息结合的高光谱数据非均一校正方法,其特征在于:步骤三中所述的实现图像分割,判定响应非均一探元的位置,判定准则如下:

式中,Loc为1表示此探元响应非均一,为0表示响应均一;R是非均一特征边缘上标记为边缘点的数目,P是最大连续边缘点的数目;M是图像的行数;Res是数据的空间分辨率。

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