[发明专利]一种微透镜阵列焦距测量方法无效
申请号: | 201210098272.0 | 申请日: | 2012-04-05 |
公开(公告)号: | CN102607820A | 公开(公告)日: | 2012-07-25 |
发明(设计)人: | 朱咸昌;伍凡;曹学东;吴时彬 | 申请(专利权)人: | 中国科学院光电技术研究所 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人: | 许玉明;贾玉忠 |
地址: | 610209 *** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明是一种微透镜阵列焦距测量方法。微透镜阵列的各个子单元将球面波波前分割,并成像于各自的焦面上;分析成像原理,各个被分割的波面法线方向经过各个子孔径的中心、焦面上的光斑中心和球面波波前的汇聚中心;通过确定汇聚球面波波前的汇聚中心,测量微透镜阵列各个子单元的光斑中心与光轴的偏移量,可完成对各个子单元焦距的测量。该方法一次图像采集和处理可完成多个子单元焦距的测量,具有较高的测量效率和测量精度,可用于阵列数较多的微透镜阵列的检测。 | ||
搜索关键词: | 一种 透镜 阵列 焦距 测量方法 | ||
【主权项】:
一种微透镜阵列焦距测量方法,基于哈特曼‑沙克波前检测原理测量微透镜阵列焦距,该检测系统由单色仪(1)、平行光管(2)、标准透镜(3)、被测微透镜阵列(4)、CCD探测器(5)和光栅测微仪(6)组成;其中,标准透镜(3)采用像差校正较好的双胶合透镜,使其出射波前接近于理想的球面波波前,利用清晰度函数的定焦技术,通过确定标准透镜(3)和被测微透镜阵列(4)的焦面,完成微透镜阵列焦距的测量,其特征是:通过以下步骤完成微透镜阵列各个子单元测量:步骤1:调节光路使平行光管(2)、标准透镜(3)和CCD探测器(5)的轴线一致,利用CCD探测器(5)在标准透镜(3)焦面附近采集图像;步骤2:利用数字图像的清晰度函数处理步骤1采集的图像,确定标准透镜(3)的焦点位置a,即球面波波前的汇集中心;步骤3:调节被测微透镜阵列(4)进入检测系统,标准透镜(3)移出检测系统,利用CCD探测器(5)在被测微透镜阵列(4)的焦面附近采集图像;步骤4:同样利用清晰度函数处理步骤3采集的图像,确定被测微透镜阵列(4)各个子单元的焦面位置bi,其中i为微透镜阵列各个子单元的编号,利用光栅测微仪(6)结合定焦原理,计算位置a和bi的轴向距离Li;步骤5:将标准透镜(3)移入检测系统,用CCD探测器(5)采集球面波波前入射被测微透镜阵列(4)焦面附近的光斑,并用光栅测微仪(6)记录采集图像的位置c;步骤6:根据哈特曼‑沙克波前检测原理和几何光学成像原理,分析被测微透镜阵列(4)各个子单元在位置b和位置c光斑的垂轴偏移Δyi和轴向偏移Δxi,计算微透镜阵列各个子单元的焦距fi: f i = Δ y i d i - Δ y i ( L i ± Δ x i ) + ‾ Δ x i 式中,di为微透镜阵列第i个子单元在位置c时的光斑与球面波波前汇集中心的垂轴中心距;Δyi为微透镜阵列第i个子单元在位置b和c的垂直偏移;Δxi为轴向偏移;Li为位置a和bi的轴向距离,即球面波波前的汇集中心和微透镜阵列第i个子单元焦点的轴向距离。
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