[发明专利]一种微透镜阵列焦距测量方法无效

专利信息
申请号: 201210098272.0 申请日: 2012-04-05
公开(公告)号: CN102607820A 公开(公告)日: 2012-07-25
发明(设计)人: 朱咸昌;伍凡;曹学东;吴时彬 申请(专利权)人: 中国科学院光电技术研究所
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 许玉明;贾玉忠
地址: 610209 *** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 透镜 阵列 焦距 测量方法
【权利要求书】:

1.一种微透镜阵列焦距测量方法,基于哈特曼-沙克波前检测原理测量微透镜阵列焦距,该检测系统由单色仪(1)、平行光管(2)、标准透镜(3)、被测微透镜阵列(4)、CCD探测器(5)和光栅测微仪(6)组成;其中,标准透镜(3)采用像差校正较好的双胶合透镜,使其出射波前接近于理想的球面波波前,利用清晰度函数的定焦技术,通过确定标准透镜(3)和被测微透镜阵列(4)的焦面,完成微透镜阵列焦距的测量,其特征是:通过以下步骤完成微透镜阵列各个子单元测量:

步骤1:调节光路使平行光管(2)、标准透镜(3)和CCD探测器(5)的轴线一致,利用CCD探测器(5)在标准透镜(3)焦面附近采集图像;

步骤2:利用数字图像的清晰度函数处理步骤1采集的图像,确定标准透镜(3)的焦点位置a,即球面波波前的汇集中心;

步骤3:调节被测微透镜阵列(4)进入检测系统,标准透镜(3)移出检测系统,利用CCD探测器(5)在被测微透镜阵列(4)的焦面附近采集图像;

步骤4:同样利用清晰度函数处理步骤3采集的图像,确定被测微透镜阵列(4)各个子单元的焦面位置bi,其中i为微透镜阵列各个子单元的编号,利用光栅测微仪(6)结合定焦原理,计算位置a和bi的轴向距离Li

步骤5:将标准透镜(3)移入检测系统,用CCD探测器(5)采集球面波波前入射被测微透镜阵列(4)焦面附近的光斑,并用光栅测微仪(6)记录采集图像的位置c;

步骤6:根据哈特曼-沙克波前检测原理和几何光学成像原理,分析被测微透镜阵列(4)各个子单元在位置b和位置c光斑的垂轴偏移Δyi和轴向偏移Δxi,计算微透镜阵列各个子单元的焦距fi

fi=Δyidi-Δyi(Li±Δxi)+Δxi]]>

式中,di为微透镜阵列第i个子单元在位置c时的光斑与球面波波前汇集中心的垂轴中心距;Δyi为微透镜阵列第i个子单元在位置b和c的垂直偏移;Δxi为轴向偏移;Li为位置a和bi的轴向距离,即球面波波前的汇集中心和微透镜阵列第i个子单元焦点的轴向距离。

2.根据权利要求1所述的方法,其特征是:其基于图像清晰度的数字图像自动定焦技术,利用该定焦技术对微透镜阵列成像进行分析,清晰度函数用来确定标准透镜(3)的焦点位置即球面波波前的汇聚中心位置a和微透镜阵列各个子单元焦面位置bi的轴向距离Li,根据图像分析原理,图像越清晰,即越接近像面,其锐度越大,相应的图像相邻像素间的灰度差也增大,因此,在成像位置上,反映灰度变化趋势的清晰度函数具有极大值,在测量步骤2中,CCD探测器(5)放置在电动平移台上,以适当的步距在标准透镜(3)的焦面附近采集图像并将各帧图像依次编号,处理分析图像并确定焦面位置采集的图像编号na,;移动CCD探测器(5)至微透镜阵列(4)的焦面附近并采集图像,用光栅测微仪记录两次图像采集起始位置的轴向距离L;同样处理分析图像并确定被测微透镜阵列(4)各个子单元焦面位置采集的图像编号nbi,计算位置a和位置b的轴线距离Li

Li=(nbi-na)×l+L

式中,l为步进电机的步距,根据公式计算,一组图像采集能确定微透镜阵列多个子单元的焦面位置,即一次图像处理完成多个子单元的焦距测量。

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