[发明专利]非挥发性存储器读取速度测试电路有效
| 申请号： | 201210092948.5 | 申请日： | 2012-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN103366824A | 公开（公告）日： | 2013-10-23 |
| 发明（设计）人： | 赵锋 | 申请（专利权）人： | 上海华虹NEC电子有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/08 | 分类号： | G11C29/08 |
| 代理公司： | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人： | 戴广志 |
| 地址： | 201206 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测试非挥发性存储器的测试电路，包括：一地址产生电路，在外部输入时钟的驱动下产生非挥发性存储器的地址扫描信号，连续读取非挥发性存储器；一位选择电路，对所述非挥发性存储器输出的数据信号Dm～D0选择某一位数据信号作为基准，并形成方波信号，测试非挥发性存储器的读取速度；一可编程分频器，对位选择电路选择的数据信号形成的方波信号，按照设定的分频比进行分频，进而以低频信号输出。本发明排除了测试电路中各个控制电路的延时误差，能够实现非挥发性存储器读取速度的准确测试，测量精度高；并且通过控制数据位的选择，可以比较各个数据位的速度差异。 | ||
| 搜索关键词： | 挥发性 存储器 读取 速度 测试 电路 | ||
【主权项】：
一种非挥发性存储器读取速度测试电路，其特征在于，包括：一地址产生电路，在外部输入时钟的驱动下产生非挥发性存储器的地址扫描信号，连续读取非挥发性存储器；一位选择电路，对所述非挥发性存储器输出的数据信号Dm～D0选择某一位数据信号作为基准，并形成方波信号，测试非挥发性存储器的读取速度；一可编程分频器，对所述位选择电路选择的数据信号形成的方波信号，按照设定的分频比进行分频，进而以低频信号输出；所述非挥发性存储器内按照隔地址数据相同，相邻地址数据按位相反的格式进行数据预存储，根据所述地址扫描信号的地址跳变输出数据信号Dm～D0。
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