[发明专利]记忆卡用测试分选机有效
| 申请号: | 201210078413.2 | 申请日: | 2012-03-22 |
| 公开(公告)号: | CN102755964A | 公开(公告)日: | 2012-10-31 |
| 发明(设计)人: | 朴海俊;玄炅珉;卢倞斗 | 申请(专利权)人: | 未来产业株式会社 |
| 主分类号: | B07C5/00 | 分类号: | B07C5/00 |
| 代理公司: | 北京鸿元知识产权代理有限公司 11327 | 代理人: | 姜虎;陈英俊 |
| 地址: | 韩国忠*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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| 摘要: | 本发明涉及记忆卡用测试分选机,其包括:托盘部,该托盘部上用于收纳待测试的记忆卡的供给托盘及根据测试结果将经测试的记忆卡分类收纳的多个收纳托盘;测试部,包括用于测试记忆卡的多个测试单元及搬送记忆卡的多个测试拾料器;缓冲部,为了搬运记忆卡而设在所述托盘部与所述测试部之间;以及搬送拾料器,在所述缓冲部与所述托盘部之间搬送记忆卡。根据本发明,自动执行测试记忆卡所具有的性能的测试工序和根据测试结果将记忆卡进行分类的分类工序,从而能够缩短对记忆卡执行测试工序和分类工序所需的时间,可提高记忆卡所具有的性能的可靠性。 | ||
| 搜索关键词: | 记忆 测试 分选 | ||
【主权项】:
一种记忆卡用测试分选机,其特征在于,包括:托盘部:位于托盘区域内,该托盘区域安放有用于收纳待测试的记忆卡的供给托盘,以及根据测试结果分类收纳经测试的记忆卡的多个收纳托盘;测试部,包括用于测试记忆卡的多个测试单元,在进行测试记忆卡的测试工序的第一测试区域和第二测试区域内分别设有多个所述测试单元;缓冲部,设在所述托盘部与所述测试部之间,包括第一缓冲机构及第二缓冲机构,该第一缓冲机构在所述托盘区域与所述第一测试区域之间移动以搬运记忆卡,该第二缓冲机构在所述托盘区域与所述第二测试区域之间移动以搬运记忆卡;以及搬送拾料器,在所述第一缓冲机构与所述托盘部之间搬送记忆卡,在所述第二缓冲机构与所述托盘部之间搬送记忆卡;所述测试部包括多个在所述测试单元与所述缓冲部之间搬送记忆卡的测试拾料器,具体为,所述测试部包括第一测试拾料器以及第二测试拾料器,该第一测试拾料器在设置于所述第一测试区域内的测试单元与所述第一缓冲机构之间搬送记忆卡,该第二测试拾料器在设置于所述第二测试区域内的测试单元与所述第二缓冲机构之间搬送记忆卡。
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