[发明专利]记忆卡用测试分选机

说明书

技术领域

本发明涉及记忆卡用测试分选机(Test Handler for Memory Card)，将记忆卡与测试设备连接，并根据测试结果将经测试的记忆卡进行分类。

背景技术

SD(Secure Digital)卡、紧凑式闪存(Compact Flash，CF)卡，多媒体卡(Multi Media Card，MMC)、记忆棒(Memory stick)、智能(Smart Media)卡、xD图像(Extreme Digital Picture)卡等记忆卡(Memory Card)作为便于携带又能够存储大量数据的介质而被广泛应用。例如，所述记忆卡使用于数码相机、手机、PDA(Personal Digital Assistants：电子记事簿)等电子产品中。

所述记忆卡通过多个工序制造，该工序包括：测试记忆卡所具有的性能的测试工序；根据测试结果将记忆卡按等级进行分类的分类工序等。通过这些工序将未正常运行的记忆卡和正常运行的记忆卡进行分类，之后将正常运行的记忆卡出厂。

以往，所述测试工序及所述分类工序通过作业者的手工作业完成。因此，将记忆卡进行商品化需要很长时间，存在生产率低下的问题。此外，由于所述测试工序及所述分类工序通过作业者的手工作业完成，所以存在记忆卡性能的可靠性低下的问题。

发明内容

本发明是为了解决所述问题而提出，本发明的目的在于提供一种记忆卡用测试分选机，该记忆卡用测试分选机能够自动执行测试记忆卡所具有的性能的测试工序和根据测试结果将记忆卡进行分类的分类工序。

为了实现所述目的，本发明包括如下结构。

本发明涉及的记忆卡用测试分选机可以包括：托盘部，位于托盘区域，托盘区域安放有用于收纳待测试的记忆卡的供给托盘，以及根据测试结果将经测试的记忆卡分类收纳的多个收纳托盘；测试部，包括用于测试记忆卡的多个测试单元，所述多个测试单元分别设置在进行测试记忆卡的测试工序的第一测试区域和第二测试区域；缓冲部，设在所述托盘部与所述测试部之间，包括第一缓冲机构及第二缓冲机构，该第一缓冲机构在所述托盘部所处的所述托盘区域与所述第一测试区域之间移动以搬运记忆卡，该第二缓冲机构在所述托盘区域与所述第二测试区域之间移动以搬运记忆卡；以及搬送拾料器(Picker)，在所述第一缓冲机构与所述托盘部之间搬送记忆卡，以及在所述第二缓冲机构与所述托盘部之间搬送记忆卡。所述测试部可以包括多个在所述测试单元与所述缓冲部之间搬送记忆卡的测试拾料器。所述测试部可以包括第一测试拾料器以及第二测试拾料器，该第一测试拾料器在设置于所述第一测试区域内的测试单元与所述第一缓冲机构之间搬送记忆卡，该第二测试拾料器在设置于所述第二测试区域内的测试单元与所述第二缓冲机构之间搬送记忆卡。

本发明涉及的记忆卡用测试分选机可以包括：托盘部：安放有用于收纳待测试的记忆卡的供给托盘，以及根据测试结果将经测试的记忆卡分类收纳的多个收纳托盘；测试部，包括用于测试记忆卡的多个测试单元；缓冲部，设在所述托盘部与所述测试部之间用于搬运记忆卡；以及搬送拾料器，在所述缓冲部与所述托盘部之间搬送记忆卡。所述测试部可以包括多个在所述测试单元与所述缓冲部之间搬送记忆卡的测试拾料器。

根据本发明能够实现如下效果。

本发明自动执行测试记忆卡所具有的性能的测试工序和根据测试结果将记忆卡进行分类的分类工序，从而能够缩短对记忆卡执行测试工序和分类工序所需的时间，可提高记忆卡性能的可靠性。

附图说明

图1是本发明涉及的记忆卡用测试分选机的概略俯视图。

图2是用于说明本发明涉及的托盘区域及测试区域的概念俯视图。

图3及图4是本发明涉及的搬送拾料器的概略侧视图。

图5是本发明涉及的测试拾料器的概略立体图。

图6是本发明涉及的缓冲部的概略俯视图。

图7是本发明涉及的测试单元和开闭单元的概略立体图。

图8至图10是为了说明本发明涉及的测试单元与开闭单元的运作关系的以图7的I-I线为基准的概略侧剖视图。

图11是用于说明本发明涉及的读取部的概念俯视图。

图12是用于说明本发明涉及的图像部的概念俯视图。

图13是用于说明本发明涉及的传感器部的概念俯视图。

图14是用于说明本发明的传感器部的运作关系的概略侧剖视图。

附图标记

1：记忆卡用测试分选机    2：托盘部    3：搬送拾料器