[发明专利]偏光板的制造方法有效

专利信息
申请号: 201210077923.8 申请日: 2012-03-22
公开(公告)号: CN102692665A 公开(公告)日: 2012-09-26
发明(设计)人: 高畑弘明;古川淳;广岩梓;清水英满 申请(专利权)人: 住友化学株式会社
主分类号: G02B5/30 分类号: G02B5/30;B32B37/12;B32B37/10
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 蒋亭
地址: 日本国*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明的偏光板(4)的制造方法,具有以下的(A)~(D)的各工序。(A)在热塑性树脂制的光学薄膜(2)上涂布粘接剂,光学薄膜2的折射率处于1.4~1.7的范围,粘接剂的折射率与光学薄膜(2)的折射率相差0.03以上,并且涂布粘接剂是使用具有粘接剂的涂布厚度的控制部的涂布机来进行的;(B)通过利用了光谱波长范围设定在800nm以下的范围内的分光干涉法的分光干涉式膜厚计15,对所涂布的粘接剂的厚度进行计测;(C)在光学薄膜(2)的粘接剂涂布面重叠聚乙烯醇系树脂制的偏光膜(1),由压送辊(20、21)相对于偏光膜(1)将光学薄膜(2)加压,而使偏光膜(1)和光学薄膜(2)经由粘接剂贴合;(D)基于得到的粘接剂的计测厚度X和粘接剂的设定厚度Y,对控制机构进行控制。
搜索关键词: 偏光 制造 方法
【主权项】:
一种制造偏光板的方法,其中,具有如下工序:(A)在热塑性树脂制的光学薄膜上涂布粘接剂,在20℃下由D线所测量的所述光学薄膜的折射率处于1.4~1.7的范围,在20℃下由D线所测量的所述粘接剂的折射率,与在20℃下由D线所测量的所述光学薄膜的折射率相差0.03以上,并且涂布粘接剂是使用具有所述粘接剂的涂布厚的控制部的涂布机来进行的;(B)通过光谱波长范围设定在800nm以下的范围内的分光干涉法,对所涂布的所述粘接剂的厚度进行计测;(C)在所述光学薄膜的粘接剂涂布面重叠聚乙烯醇系树脂制的偏光膜,相对于所述偏光膜将所述光学薄膜加压,而使所述偏光膜和所述光学薄膜经由所述粘接剂贴合;(D)根据设定在0.5~5μm的范围内的所述粘接剂的设定厚度Y和所述粘接剂的计测厚度X,对所述控制部进行控制。
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