[发明专利]一种提高区熔硅单晶电阻率均匀性的行波磁场法无效

专利信息
申请号: 201210059753.0 申请日: 2012-03-08
公开(公告)号: CN102534750A 公开(公告)日: 2012-07-04
发明(设计)人: 李建宏;张雪囡;菅瑞娟;王遵义;刘铮;王刚;赵宏波 申请(专利权)人: 天津市环欧半导体材料技术有限公司
主分类号: C30B13/00 分类号: C30B13/00;C30B13/12;C30B29/06
代理公司: 天津中环专利商标代理有限公司 12105 代理人: 莫琪
地址: 300384 天津市西*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 发明涉及一种提高区熔硅单晶电阻率均匀性的行波磁场法,其特征在于,在硅熔体外部安装行波磁场发生器,在区熔硅单晶拉晶过程中向硅熔体施加行波磁场;通过行波磁场加强区熔硅单晶中心部位硅熔体的纵向对流强度,进而带动硅熔体边缘部位的流动强度;行波磁场发生器采用圆筒型发生器,圆筒型发生器产生的圆筒型行波磁场使硅熔体的对流具有轴对称性,行波磁场N极和S极的间距为1~50cm,磁场的最大强度为400~800Gauss,磁场速度为1~4cm/s;通过控制行波磁场N极S极间距,调整对流路径和增加对流强度,最终使掺杂剂在硅熔体中的分布更加均匀,提高区熔气掺硅单晶的径向电阻率均匀性。
搜索关键词: 一种 提高 区熔硅单晶 电阻率 均匀 行波 磁场
【主权项】:
一种提高区熔硅单晶电阻率均匀性的行波磁场法,其特征在于,在硅熔体外部安装行波磁场发生器,在区熔硅单晶拉晶过程中向硅熔体施加行波磁场;通过行波磁场加强区熔硅单晶中心部位硅熔体的纵向对流强度,进而带动硅熔体边缘部位的流动强度;所述行波磁场发生器采用圆筒型发生器,圆筒型发生器产生的圆筒型行波磁场使硅熔体的对流具有轴对称性,行波磁场N极和S极的间距为1~50cm,磁场的最大强度为400~800Gauss,磁场速度为1~4cm/s;通过控制行波磁场N极S极间距,调整对流路径和增加对流强度,最终使掺杂剂在硅熔体中的分布更加均匀,提高掺杂剂的均匀性;所述方法包括如下步骤:a)      首先将炉门打开,用纤维纸将炉门内壁、上炉室、上轴、线圈和保温筒等部分擦拭一遍;b)      将卡盘安装在多晶料头部,并用扳手拧紧,之后将卡盘安装在上轴低端,之后调整多晶料棒使之呈竖直状态;c)      然后安装线圈和保温筒,并用水平仪进行水平调整,之后用专门的对中工具进行线圈的对中,之后将石墨环伸出,下降多晶使之位于石墨环上方约3mm;d)      抽空,充入Ar气使炉压达到4 bar,之后缓慢增加功率进行预热,预热时间为30分钟之后向上升起单晶使石墨环能够收回初始位置时将石墨环退出,下降多晶料棒进行加热;e)      待多晶料棒下端出现熔区后,上升籽晶与熔区接触进行过热引晶;f)      引晶完毕后,开启下速进行拉细颈:细颈直径Φ2~3mm,长度为150mm;g)      降低下速进行扩肩,此时开始通入掺杂气体,并开启行波磁场,设定行波磁场的峰值强度,当扩肩直径达到设定值时,降低下轴速度开始等径生长,最后生长完成后,收尾停炉,并取出硅单晶;根据上述步骤制备获得的区熔硅单晶电阻率均匀性达到RRV<10%。
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