[发明专利]一种矿物分析装置

摘要

本发明涉及一种矿物样品分析的装置，适用于在矿业勘探或开采过程中的现场矿物样品分析，通过利用高光谱成像技术对样品中的矿物类型进行扫描，利用X射线荧光技术对样品中的元素含量进行分析，其特征在于：包括高光谱成像模块c，样品快速制备模块b，X射线荧光分析模块a，信息收集和分析模块d；通过高光谱成像模块c，实现对样品图像信息的获取，并同时实现对样品矿物类型的辨识和分析。通过快速样品制备模块b，实现对矿物样品的现场快速制样，从而获取用于X射线荧光分析的理想样品。通过小型化X射线模块a，实现对矿物样品所含元素的含量分析。信息收集与分析模块d可以实现高光谱图像信息、矿物类型信息，元素含量信息及空间地理信息的综合，从而给出全地质学信息，实现矿物样品的现场自动编录。

主权项

一种矿物样品分析的装置，适用于在矿业勘探或开采过程中的现场矿物样品分析，通过利用高光谱成像技术对样品中的矿物类型进行扫描，利用X射线荧光技术对样品中的元素含量进行分析，其特征在于：包括高光谱成像模块，样品快速制备模块，便携X射线荧光分析模块，信息收集和分析模块；A、高光谱模块能够实现对矿物样品中矿物类型的辨别与标识。B、在X射线荧光分析模块之前包含快速制样模块，可以瞬时实现对岩石样品的快速制备，获取X射线荧光分析的理想样品。C、便携X射线荧光分析模块，使用微型X光管以及半导体制冷探测器，以基本参数法作为分析方法，能够实现对复杂矿物样品的多元素分析。D、信息收集和分析模块，将高光谱标识的矿物类型信息、图像信息与X射线分析的元素含量信息结合在一起，并通过地理信息软件(GIS)能够实现全地质信息的分析和展示。