[发明专利]一种矿物分析装置

权利要求书

1.一种矿物样品分析的装置，适用于在矿业勘探或开采过程中的现场矿物样品分析，通过利用高光谱成像技术对样品中的矿物类型进行扫描，利用X射线荧光技术对样品中的元素含量进行分析，其特征在于：包括高光谱成像模块，样品快速制备模块，便携X射线荧光分析模块，信息收集和分析模块；

A、高光谱模块能够实现对矿物样品中矿物类型的辨别与标识。

B、在X射线荧光分析模块之前包含快速制样模块，可以瞬时实现对岩石样品的快速制备，获取X射线荧光分析的理想样品。

C、便携X射线荧光分析模块，使用微型X光管以及半导体制冷探测器，以基本参数法作为分析方法，能够实现对复杂矿物样品的多元素分析。

D、信息收集和分析模块，将高光谱标识的矿物类型信息、图像信息与X射线分析的元素含量信息结合在一起，并通过地理信息软件(GIS)能够实现全地质信息的分析和展示。

2.根据权利要求1所述的矿物分析装置，其特征在于高光谱模块可以使用各类高光谱成像技术原理为基础的高光谱成像仪器，如空间干涉型高光谱成像仪、时间干涉型高光谱成像仪或光栅型高光谱成像仪。

3.根据权利要求1或2所述的矿物分析装置，其特征在于在X射线荧光模块之前使用快速样品制样设备，对样品进行快速的现场制备，以实现高精度的X射线荧光分析。

4.根据权利1或2或3所述的矿物分析装置，其特征在系统所获取的地质学的数据和信息，根据矿业的相关规范进行展示，以上可以由计算机、手持终端机，面板计算机或软件完成。