[发明专利]一种阻变存储器的制备方法无效

专利信息
申请号: 201210041447.4 申请日: 2012-02-21
公开(公告)号: CN102593352A 公开(公告)日: 2012-07-18
发明(设计)人: 黄如;谭胜虎;张丽杰;潘岳;黄英龙;杨庚宇;唐昱;毛俊;蔡一茂 申请(专利权)人: 北京大学
主分类号: H01L45/00 分类号: H01L45/00
代理公司: 北京万象新悦知识产权代理事务所(普通合伙) 11360 代理人: 贾晓玲
地址: 100871*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种阻变存储器的制备方法,其包括如下步骤:在衬底上制备底电极;然后采用干氧氧化或湿氧氧化对底电极金属进行部分氧化,形成厚度为3nm-50nm的金属氧化物,作为阻变材料层;最后在上述阻变材料层上制备顶电极。本发明避免了传统方法中淀积阻变材料层的步骤,大幅降低了工艺复杂度。同时可以实现阻变材料层与底电极的自对准。保证器件之间的完全隔离。避免了传统工艺方法产生的众多寄生效应。同时保证了器件的实际面积与设计面积一致。
搜索关键词: 一种 存储器 制备 方法
【主权项】:
一种阻变存储器的制备方法,其包括如下步骤:1)在衬底上制备底电极。2)采用干氧氧化或湿氧氧化对底电极金属进行部分氧化,形成厚度为3nm‑50nm的金属氧化物,所述金属氧化物层作为阻变材料层;3)在上述阻变材料层上制备顶电极。
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