[发明专利]用于超导交流电压标准的低热电势测试探杆

摘要

本发明公开了一种用于超导交流电压标准的低热电势测试探杆，包括转接头、测量转接盒、连接杆和屏蔽筒，屏蔽筒内设置有超导阵列结，连接杆内设有同轴电缆A和同轴电缆B；同轴电缆A上端头的线芯与测量转接盒内的电压输出接口低端相连接，同轴电缆A下端头的线芯与超导阵列结电压输出高端相连接，同轴电缆A下端头的屏蔽层与超导阵列结电压输出低端相连接；同轴电缆B上端头的线芯与测量转接盒内的电压输出接口高端相连接，同轴电缆B下端头的线芯与该同轴电缆B下端头的屏蔽层短接；同轴电缆A上端头的屏蔽层与同轴电缆B上端头的屏蔽层短接在一起。本发明解决了在低温环境下测试探杆在交流电压的测量中由于温差热电势而影响测量结果不确定度的问题。

主权项

一种用于超导交流电压标准的低热电势测试探杆，其特征在于：所述测试探杆包括转接头、测量转接盒、连接杆和屏蔽筒，所述转接头固定设置于所述测量转接盒的一端，所述测量转接盒的另一端与所述连接杆的上端部固接在一起，所述屏蔽筒与所述连接杆的下端部固定连接在一起； 所述屏蔽筒内设置有超导阵列结，所述连接杆内设有连接引线，所述的连接引线包括同轴电缆A和同轴电缆B；所述同轴电缆A上端头的线芯与所述测量转接盒内的电压输出接口低端相连接，所述同轴电缆A下端头的线芯与所述超导阵列结电压输出高端相连接，该同轴电缆A下端头的屏蔽层与所述超导阵列结电压输出低端相连接；所述同轴电缆B上端头的线芯与所述测量转接盒内的电压输出接口高端相连接，所述同轴电缆B下端头的线芯与该同轴电缆B下端头的屏蔽层短接；所述同轴电缆A上端头的屏蔽层与所述同轴电缆B上端头的屏蔽层短接在一起。